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冷热温度冲击试验箱DWC系列 <用途及特点> ·该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。 该冲击试验箱的特点是:试件(待测品)静止不动,使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。 标准配置:φ50测试孔盖个、照明灯一盏、记录仪一台; 选配部件:计算机通讯接口,工业Pc及控制软件; 试验方法标准: GB2423.1-89试验A, 低温试验方法. GB2423.2-89试验B, 高温试验方法 IEC68-2-1试验A IEC68-2-2试验 BGJB1032-90环境应力筛选方法
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