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lexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现最直观的视野移动。
· 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型 *1 电子显微镜,仍可实现4.0 nm的分辨率
· 凭借的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器(UVD*2 ),可在低加速/低真空下观察时实现的画质
· 全新的用户界面,无论用户的熟练程度如何,都可实现高画质和高处理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”,支持观察时的视野搜索和样品定位
· 大直径(30毫米2 )无氮EDS检测器,可快速进行元素分析*2
项目 | 内容 |
分辨率 *3 | 4.0 nm(二次电子像、加速电压:20 kV、高真空模式) |
加速电压 | 0.3 kV~20 kV |
倍率 | ×6~×300,000 (照片倍率) |
低真空设置 | 6~100 Pa |
电子枪 | 集中灯箱(Pre-Centered Cartridge Filament) |
样品台 | 3轴马达驱动样品台 |
样品尺寸 | 直径80 mm(选配:直径153mm) |
样品高度 | 40 mm |
尺寸 | 机体:450(宽度)×640(进深)×690(高度) mm |
选项 | · 高敏感度低真空检测器(UVD2.0) · 能量色散型X射线检测器(EDS) |
软件 | Multi Zigzag(连续视野图像导入功能) |
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