一、概述
本系列产品根据试品使用的特殊性,分为两箱式动态冲击和一箱式静态冲击。既可作冷热冲击试验,也可作单独高温或单独低温使用。广泛用于航空、航天、电子、IT行业等模拟试品在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等,同时可通过此试验,进行产品的质量控制。
二、依据标准
《电工电子产品基本环境试验规程 试验N:温度变化试验方法》GB2423.22-93
《温度冲击试验》GJB 150.5-86
《温度冲击方法》GJB 360.7-87
《高温试验箱技术条件》GB 11158-2008
《低温试验箱技术条件》GB 10589-2006
《高低温试验箱技术条件》GB 10592-2008
《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》GBT 2423.1-2008
《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温》GBT 2423.2-2008