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•全自动多点扫描: 多种预设方案供选择,也可以自定义测试方案
•手动任意点测量: 只需提供坐标,一键测量
•精密探针头: 镶嵌红宝石轴套的探针头,保证测量的机械精度、稳定性和寿命
•超宽测量范围: 1 μΩ~100 MΩ
•样品尺寸: 230 mm*230 mm*10 mm
•测量速度: ~2 秒/点
•测量精度: ±1%
•重复性(1σ): ±0.2% (动态测试)
•±0.02%(静态测试)
•数据可视化: 彩色编码图
•数据自动存储: 存储为EXCEL 格式,便于后期数据分析
项目 | 内容 |
---|---|
超宽测量范围 | 1 μΩ~100 MΩ |
样品尺寸 | 230 mm*230 mm*10 mm |
测量速度 | ~2 秒/点 |
测量精度 | ±1% |
重复性(1σ) | ±0.2% (动态测试) ±0.02%(静态测试) |
定位精度 | 定位精度:40 μm 重复定位精度: 5 μm 位移分辨率: 1 μm |
探针间距 | 1.00 mm |
探针材料 | 碳化钨 |
探针压力(可选) | 3~5 N(薄膜) |
机械游移 | <0.3% |
宝石轴承内孔与探针间距 | <6 μm |
外观尺寸(长*宽*高) | 530 mm * 630 mm * 350 mm |
•半导体及太阳能电池(单晶硅、多晶硅、钙钛矿)
•液晶面板(ITO/AZO)
•功能材料(热电材料、碳纳米管、石墨烯、银纳米线、导电纤维布)
•半导体工艺(金属层/离子注入/扩散层)
•非晶合金
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