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一、执行与满足标准
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法;
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;
4、GJB150.5-86温度冲击试验;
5、GJB360.7-87温度冲击试验;
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
二、产品介绍
万喜堂app下载网页版 定制高低温循环冲击试验机 用于电子电器零组件、自动化零部件、LED光电、LED显示器、LED灯珠、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
三、万喜堂app下载网页版 定制高低温循环冲击试验机技术参数
型号:JR-WD-80D
温度范围: -65℃~+100℃(+150℃)
试验箱尺寸(W×H×D)mm:500×400×400
高温槽尺寸(W×H×D)mm:400×400×400
低温槽尺寸(W×H×D)mm:400×500×400
样品隔层架对试验物的承重量:2.5kg以内,如有超重的测试物请下单时注明。
高温上升时间约:40min
低温下降时间约:80min
高温槽温度zui高可储存至:60℃~200℃
低温槽温度zui低可储存至:-70℃~-10℃
温度移动冲击时间在:10秒钟内
温度冲击恢复稳定时间在:3~5分钟内