半导体温度冲击老化试验箱 返回列表页

半导体温度冲击老化试验箱

简介：冷热冲击试验机，用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在zui短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。我司生产的冷热冲击试验机质量好，价格优，免费保养，欢迎采购。

设备规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；、

半导体 温度冲击老化试验箱

产品用途

该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备，考核和确定电工、电子、汽车电器、半导体、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，，研位，等单位.

机械钣金结构

全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间和参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。

冷箱、热箱独立控制，箱门互相独立，扩大试验箱的使用范围（一箱三用）。

产品保温效果可以得到充分保证。

试验箱门与循环风机，提蓝传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。

在箱顶有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。

半导体温度冲击老化试验箱

控制系统

低温区、高温区转换时间小于等于15秒。

温度恢复时间小于等于5分钟。

半导体 温度冲击老化试验箱

规范要求：

a.采用铝片验证机台负载能力（非塑料负载）
b.传感器放置测试区而非风道口符合实验有效性
a.进行两箱冲击时测试区湿度符合规范要求
b.可扩充待测品表面温度控制驻留时间来缩短试验时间
c.可直接多项规范与试验条件

*设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；
设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小；
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命；
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性；
多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）保证了用户多种功能和测试的需要；
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果；
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求；

*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

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