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产品介绍
SOC750-M W 系列是一款快速、实时 的 MWI R 高光谱成像系统。可以 用于机器视觉、精准农业 、生物医药 、国防安全 、遥感 科学 等研究工作。
基于高 速 HgCdTe/MC T 或 InS b 焦平面阵列探测器、高速扫描系统、高质量的成像光谱仪、以及功能强劲的标定和分析软 件 HSAnalysi s ， SOC750-M W 可以 在 2- 5 μ m 范围内 以 27Cubes/ s 的速度进行高光谱图像测量，光谱分辨率 为 4 8 ～ 73 n m 。所测数据可以由第三方软件读取及分析。
SOC75 0 成像光谱仪包括实时高光谱成像处理器，采用 的 SO C 公司专有的高性 能 HSAnalysis 3 软件，软件具有图形用户友好界面。
技术指标
| 型号 | SOC750-HB | SOC750-HR |
| 主要特点 | 高亮度 | 高分辨率 |
| 检测器 | 锑化 铟 (InSb) | 锑化 铟 (InSb) |
| 空间像素 | 256*240 | 512*512 |
| 光谱范围 | 2-5µm | 2-5µm |
| 光谱通道 | 42 | 64 |
| 光谱带宽 | 0.073µm | 0.048µm |
| 测量速度 | 11c/s@256×240×42 30c/s@160×144×42 | 2c/s@512×512×64 24c/s@128×146×64 |
| FP A 阱容 | 20M e ‑ | 5Me ‑ |
| 探测器像距 | 30µm | 20µm |
| IFOV@50mm | 0.6mr | 0.4mr |
| 测量温度 | 1250°C | 1100°C |
产地：美国
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