万喜堂彩票官网平台 菲希尔光谱仪 X射线荧光镀层测厚仪检测范围
主要技术指标:(标★为重要参数)
1、测量原理:X射线荧光光谱法测量镀层厚度
2、测量方式:无损检测,可自动聚焦
3、元素测量范围: Cl(17)--U(92),多可测量24种元素23层镀层。
★4、手动X/Y平台,移动范围≥95x150mm,可用工作台面≥420x450mm
5、电动Z轴,手动/自动聚焦,可移动范围≥140mm
★6、采用DCM(测量距离补偿法)可远距离对焦测量腔体样品,可达80mm深度
★7、满足可变高压30KV,40KV,50KV三种可调节,以满足不同的测试需求。
★8、准直器:φ0.3的圆形准直器
9、X射线探测器:比例接收器
10、统计计算:数据组带时间和时期功能,统计功能包含平均值、标准偏差、大值、小值等;还可输入公差范围,计算CP和Cpk值,超范围值时仪器应有自动报警提示功能
11、windows7以上中文操作界面,WinFTM专业测试软件,具备连接PC和打印机的USB借口
★12、测量误差:镀层厚度≥0.5um时,顶层镀层测量精度≤5%
★13、采用基本参数法,内置12纯元素频谱库,可实现无标准片校准情况下测量
★14 MQ值显示,用于判定测量程式是否与样品匹配,避免误操作
★15、标准片:配备12种基准纯元素(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr)。
16、具备高分辨率CCD摄像头,放大倍数40-160倍。
★17、仪器应具有环保部门出具的辐射豁免管理函
18、计算机控制系统:I5处理器,8G内存,500G硬盘,19寸液晶显示器,彩色喷墨打印机。
19、工作环境条件:操作温度范围:10℃~40℃;相对湿度:20%~80%;
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