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性能指标：

1、X-射线光源: 采用高强度微聚焦旋转阳极光源，Cu靶，功率2.5K W，管电压50kV，管电流50mA 2、测角仪：四轴（Kappa,ω，2θ，φ）测角仪，?360°旋转 ≤0.02°步长; ?/2? 步长≤0.002°；角度重现性±0.0001° 3、探测器：大面积photon II探测器，探测器有效面积14cm×10cm,探测器到样品的距离马达自动可调

主要应用：

1、精确测定小分子无机物、有机物、配合物以及蛋白质大分子等晶态物质的三维空间结构(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度)及分子在晶格中的实际排列状况 2、可提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。 3、晶体X-射线衍射数据收集、数据处理（还原、校正）、晶体结构解析、分子图、分子堆积图绘制等。

样品要求：
1、送检样品必须为单晶

 2、晶体要求表面光洁、颜色和透明度一致

3、单晶表面不附着小晶体，没有缺损重叠、解理破坏、裂缝等缺陷

4、晶体长、宽、高的尺寸均为0.1 ~ 0.4mm ，即晶体对角线长度不超过0.5 mm（大晶体可用切割方法取样，小晶体则要考虑其衍射能力）

5. 晶体质量好，可测无机晶体，有机晶体以及MOF

6. 有机和MOF类单晶，在送样时，应放在母液中，一起寄出

7. 若要解析结构，应提供分子式以及结构式

收费说明： 测试不出来不收费；如果我们测出来不是你想要的产物，是要正常收费的，针对这点，如果不清楚的，可以先扫一个晶胞参数看下。后期不收数据了，我们会收取一个晶胞的费用。