Cube系列 X 射线荧光分析测厚仪
一、功能
1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足 GB/T 16921-200 5标准(等同 ISO3497 : 2000 、 ASTM B568 和 DIN50987 )。
镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。
镀层层数:多至5层。
测量点尺寸:圆形测量点,直径约0.2-0.8毫米。
测量时间:通常35秒 -180 秒。
样品大尺寸: 330 x 200 x 170 mm ( 长 x 宽 x 高 ) 。
测量误差:通常小于 5% ,视样品具体情况而定。
可测厚度范围:通常0.01微米到 30 微米,视样品组成和镀层结构而定。
同时定量测量8个元素。
定性鉴定材料达20个元素。
自动测量功能 :编程测量,自定测量 ; 修正测量功能 :底材修正,已知样品修正
定性分析功能 :光谱表示,光谱比较 ; 定量分析功能 :合金成份分析
数据统计功能 :x管理图, x-R 管理图,直方柱图。
二、 Cube系列 X 射线荧光分析测厚仪 特点
采用基本参数法校准,可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。
X 射线采用从上至下的照射方式,即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之,如果是从下至上的照射方式,遇到表面凹凸的样品,无法调整 Z 轴距离,导致测量光程的变化,引起测量的误差。
具有多种 测试功能 ,仅需要一台仪器,即可解决多种测试
相比其他分析设备,投入成本低
仪器操作简单,便可获得很好的准确性和重现性
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析
镀层分析: 可分析 四 层 以上 厚度,*的 FP 分析软件 , 真正做到无标准片亦能进行准确测量 ( 需要配合纯材料 ), 为您大大节省购买标准片的成本 . 超越其他品牌的所谓 FP 软件 .
定性定量分析: 可定性分析20多种金属元素 , 并可定量分析成分含量 .
光谱对比功能: 可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别 , 从而控制来料的纯度 .
统计功能: 能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质 .
产品技术参数:
Item 项目 | Part & Ref Number 部件号 | Commodity & Description 货物及描述 |
1 | Cube X射线镀层测厚仪 | X射线光管 微聚焦,高性能,钨靶,焦斑尺寸 0.2-0.8mm 高电压 50 千伏( 1.2 毫安)可根据软件控制优化 探测器 高分辨气体正比计数探测器 准直器 单一固定准直器直径0.3mm 样品仓 330 x 200 x 170 mm 样品台 手动Z 轴样品台 电源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W 仪器尺寸 350 x 420 x 310 mm 仪器重量 27Kg Windows 10操作系统和计算机主机 19寸液晶显示器 |
1 | Cube X射线镀层测厚仪 | X射线光管 微聚焦,高性能,钨靶,焦斑尺寸 0.2-0.8mm 高电压 50 千伏( 1.2 毫安)可根据软件控制优化 探测器 高分辨气体正比计数探测器 准直器 单一固定准直器直径0.3mm 样品仓 330 x 200 x 170 mm 样品台 手动Z 轴样品台 电源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W 仪器尺寸 350 x 420 x 310 mm 仪器重量 27Kg Windows 10操作系统和计算机主机 19寸液晶显示器 |