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介质损耗和介电常数是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质
介质损耗和介电常数是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。
高频绝缘材料 介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、JD-100A/JD-100B/JD-100C型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入JD-100A/JD-100B或JD-100C的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T1409-2006、GB/T1693-2007、美标ASTMD150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器 中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。
一、可测试材料
绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
二、产品参数
1.主机
功能名称: | JD-100A | JD-100B | JD-100C |
信号源范围 DDS 数字合成信号 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz
| 100KHZ-160MHz |
信号源频率覆盖比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
信号源频率精度 6 位有效数 | 3×10-5 ±1 个字 | 3×10-5 ±1 个字 | 3×10-5 ±1 个字 |
采样精度 | 11BIT | 11BIT | 12BIT 高精度的 AD 采样,保证了 Q 值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性 |
Q 测量范围 | 1-1000 自动 / 手动量程 | 1-1000 自动 / 手动量程 | 1-1000 自动 / 手动量程 |
Q 分辨率 | 4 位有效数 , 分辨率 0.1 | 4 位有效数 , 分辨率 0.1 | 4 位有效数 , 分辨率 0.1 |
Q 测量工作误差 | <5% | <5% | <5% |
电感测量范围 4 位有效数 , 分辨率 0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率 0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率 0.1nH | 1nH-140mH 分辨率 0.1nH |
电感测量误差 | <3% | <3% | <3% |
调谐电容 | 主电容 30-540pF | 主电容 30-540pF | 主电容 17-240pF |
电容 直接测量范围 | 1pF ~ 2.5uF | 1pF ~ 2.5uF | 1pF ~ 25nF |
调谐电容误差 分辨率 | ±1 pF 或 <1% 0.1pF | ±1 pF 或 <1% 0.1pF | ±1 pF 或 <1% 0.1pF |
谐振点搜索 | 自动扫描 | 自动扫描 | 自动扫描 |
Q 合格预置范围 | 5-1000 声光提示 | 5-1000 声光提示 | 5-1000 声光提示 |
Q 量程切换 | 自动 / 手动 | 自动 / 手动 | 自动 / 手动 |
LCD 显示参数 | F , L , C , Q , Lt , Ct 波段等 | F , L , C , Q , Lt , Ct 波段等 | F , L , C , Q , Lt , Ct 波段等 |
自身残余电感和测试引线电感的 | 有 | 有 | 有 |
大电容值直接测量显示功能 ( ) | 测量值可达 2.5uF | 测量值可达 2.5uF | 测量值可达 25nF |
介质损耗系数 | 精度 万分之三 | 精度 万分之三 | 精度 万分之一 |
最小介损系数 | 万分之一 | 万分之一 | 万分之一 |
介电常数 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 |
材料测试厚度 | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm |
2.夹具
S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:
固体:材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm (二选一)
液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm、深7mm(选配)
3. LKI-1电感组
电感 No | 电感量 | 准确度 % | Q 值≥ | 分布电容约略值 | 谐振频率范围 MHz | 适合介电常数测试频率 | |
JD-100A/100B | JD-100 | ||||||
1 | 0.1 μ H | ± 0.05 μ H | 200 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5 μ H | ± 0.05 μ H | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5 μ H | ± 5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10 μ H | ± 5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50 μ H | ± 5% | 200 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100 μ H | ± 5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ± 5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ± 5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ± 5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
10 | 14NH | ± 5% | 80 | 8pF | | | 100MHZ |
注意: 可定制100MHz电感。
JD-100C 主机和JD-100A/JD-100B主机相比优点在于可以测试精度0.0001的材料介损值。
二、适用标准
1. GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
2. GB/T1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
3. ASTM-D150-介电常数测试方法
4. GB/9622.9-88/SJT11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法
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