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RQ88102铁基Fe/非铁基NFe镀层测厚仪膜厚仪RQ88102铁基Fe/非铁基NFe镀层测厚仪采用高新晶片微电脑技术，测试快速稳定的膜厚仪，自动识别磁性或非磁性基材，却换相应的测试方法，适用于测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层厚度
RQ88102铁基Fe/非铁基NFe镀层测厚仪 膜厚仪
RQ88102铁基Fe/非铁基NFe 镀层测厚仪采用高新晶片微电脑技术，测试快速稳定的膜厚仪 ，自动识别磁性或非磁性基材，却换相应的测试方法，适用于测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层厚度。
优点：
标准片4片： 50um 、100um、 250um 、500um（选购：12um、25um）
校准基体：2块（Fe铁基体*1、NFe铝基体*1）
电池2块（航空运输一般不配电池）
说明书1份
保修卡1张
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