测厚仪

测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为：

1、接触式测厚仪

接触面积大小划分：

点接触式

面接触时

2、非接触式

非接触式根据其测试原理不同，又可分为以下几种：

激光

超声波

涂层

X射线

白光干涉

电解式

管厚规

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光：是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

X射线：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.

纸张：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

薄膜：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

技术参数：

1、测量范围：0-10mm

2、上策直径：ø10±0.05mm

3、精度值：0.01mm

4、施加压力：0.02mpa