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从样品基质中去chu无机阴离子和强有ji酸污染物并中和强酸样品来提高离子色谱 (IC) 性能并实现痕量离子分析。Thermo Scientific™ Dionex™ OnGuard™ II A 柱芯是一种离线样品制备技术，在 IC 分析之前使用苯乙烯阴离子交换树脂来去chu碳酸氢盐中的这些基质干扰物。单独或串联使用这些产品，或者使用选配的 Dionex OnGuard 样品制备站来同时预处理多达 12 份样品。

解决棘手的应用问题

• 提高灵敏度，降低基线并提高分离效果

• 测定浓缩样品基质中的痕量级别化合物，重现性好

• 增加您分析柱的使用寿命

• 由于在较宽的 pH 值范围内具有稳定性，因此可用于各类基质

• 支持选择 1 cc 和 2.5 cc 规格的应用，同样适用于自动处理（自定顺序）的规格

易于使用，无泄漏

• 无泄漏、无沟流纯化柱

• 快速、牢固的鲁尔接头入口连接

性能有保证

• 运输包装中包括验证性能、效果和清洁度的分析证书

同时预处理 12 份样品

• 使用选配的 Dionex OnGuard 样品预处理工作站和 OnGuard 样品预处理纯化柱