万喜堂app下载彩票 MicroP XRF-2020镀层测厚仪

先锋X射线镀层测厚仪X-RAY膜厚仪 测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

仪器规格

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg

仪器全自动台面, 自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

微先锋测厚仪XRF-2020操作方法

Microp XRF-2020 L型-H型-PCB型

1． 仪器及附件均处开机状态（电脑，显示器）

2． 在程序库中选中与产品对应的曲线（产品需与曲线一致）

3．  打开仪器前盖，台面自动伸出

4．  将样品放入仪器台面，测量大致位置对准仪器红外对焦点

5．  关闭仪器前盖，仪器台面自动归位

6．  在显示器屏幕中用鼠标控制仪器台面微调，精确对准测试位置

7．  点击SART测试：

8．  测试过程中X-RAY指示灯亮红，此时严禁打开仪器前盖。

9．  测试时间15秒主窗口及数据表中显示测试产品厚度

10． X-RAY指示灯熄灭，打开仪器前盖，台面自动伸出

11． 取出样品，完成测试

X-RAY膜厚仪

X射线镀层测厚仪

韩国电镀测厚仪

X-RAY电镀测厚仪

微先锋XRF-2020L

韩国Micropioneer XRF-2020测厚仪膜厚仪

快速无损测量

镀金，镀银，镀锡，镀银，镀镍，镀铜

镀锌镍合金等！