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FEI Talos F200X 扫描/透射电子显微镜融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能与行业的能量色散 X 射线光谱仪 (EDS) 信号检测功能及基于成分测绘的三维化学表征功能。Talos F200X 可在所有维度 (1D-4D) 下实现速、确的 EDS 分析，以及且支持快速导航的动态显微镜 HRTEM 成像。与此同时，FEI Talos F200X 还提供的稳定性和最长的正常运行时间。

的 STEM 成像分辨率和通量

FEI Talos F200X STEM 可以实现速、最准确且量化的多维纳米材料表征。FEI Talos F200X 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的高级研究与分析。

特色配件

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FEI 的全新样品加热和偏置夹持器将扩展您的显微镜的功能。对于各种应用领域内需要原位 加热纳米材料的精密实验（例如对纳米量级退火行为、金属相变、催化剂纳米系统的结构改变与烧结现象、淬火、偏析/扩散现象等的研究），NanoEx-i/v 是理想的解决方案。