ITO薄膜厚度检测仪器 返回列表页

ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极zui常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。

ITO薄膜厚度检测仪器，Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪，采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

ITO薄膜厚度检测仪器技术指标：

负荷量程：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）

分辨率：0.1μm

测量速度：10 次/min（可调）

测量压力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（纸张）

接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）

注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz

外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)

净重：32kg

仪器配置：

标准配置：主机、标准量块一件

选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机