介电常数和介质损耗测试仪 由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

  介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～60MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε）变化的测试。

  本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。

1 特点：
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～60MHz介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε）变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的（tanδ）和（ε）的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生10kHz～60MHz, 100kHz～160MHz 测试信号。独立信号   源输出口，所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

2 主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～60MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）： tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

2.2 Q表

2.3 介质损耗装置：

2.3.1 平板电容器极片尺寸：
      916:Φ38mm和Φ50mm二种.
      914:Φ38mm .
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率： 0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性：  0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围： ±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距： 25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:  ≤2.5×10-4

2.4 电感器：
  按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。

2.5 高频介质样品（选购件）：
  在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性

它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

c类数显Q表工作频率范围是10kHz～60MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以夹具BH916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗（tanδ）和介电常数（ε），高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等进行测试。本Q表依照国家计量检定规程：“JJF1073-2000高频Q表校准规范”执行。

1 特点：
◎ 本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成发生10kHz～60MHz,测试信号。
◎ 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ 数字化Q值预置，能提高批量测试的可靠性和速度。

介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～60MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε）变化的测试。

  本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。

1 特点：
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在100kHz～160MHz介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε）变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的（tanδ）和（ε）的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生10kHz～60MHz, 100kHz～160MHz测试信号。独立信号   源输出口，所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

2 主要技术指标：

2.1 tanδ 和 ε 性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～60MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：tanδ：   0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：  tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

2 主要技术指标：
2.1 测试信号频率范围：10kHz～60MHz，数字合成，可数字设置或连续调节，五位有效数显。
2.2 Q值测量范围：1～1000四位数显，分辨率0.1Q。分100、316、999三档，量程可自动切换。
2.3 Q值固有误差：±5%±3% 满刻度值。
2.4 有效电感测量范围：0.1µH～1000mH。
2.5 电感测量误差：≤5%±0.02µH
2.6 调谐电容特性：
2.6.1可调电容范围：40pF～500 pF。
2.6.2 精确度：±1% 或0.5pF。
2.6.3微调电容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF
2.6.4残余电感值：约30nH。
2.7 Q预置功能：Q预置范围：1～1000均可。

BH916 介质损耗测试装置（数显）

   BH916介质损耗测试装置与C类Q表及电感器配用，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
  本测试装置是由测微平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样，由平板电容器的刻度读数变化，通过公式计算得到介电常数。

1 工作特性
1.1 平板电容器：
1.1.1 极片尺寸：
 c类-38：Φ38mm.
  c类-50：Φ50mm.
1.1.2 极片间距可调范围和分辨率：
  ≥8mm， ±0.002mm
1.2 夹具插头间距：
  25mm±1mm
1.3夹具损耗角正切值
  ≤2.5×10-4

附表二,LKI-1电感组典型测试数据

线圈号 测试频率         Q值   分布电容p     电感值
  9    100KHz          98     9.4          25mH
  8    400KHz         138    11.4        4.87mH
  7    400KHz         202    16          0.99mH
  6      1MHz         196    13          252μH
  5      2MHz         198     8.7       49.8μH
  4    4.5MHz         231      7          10μH
  3     12MHz         193     6.9       2.49μH
  2     12MHz         229     6.4      0.508μH
  1     25MHz 50MHz  233211   0.9      0.125μH

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