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参考价	¥ 139880
订货量	≥1 件

具体成交价以合同协议为准

公司名称北京博宇讯铭科技有限公司
品牌鼎阳
型号SDS6204H10
所在地北京市
厂商性质代理商
更新时间2022/1/20 14:40:19
访问次数351

产品标签:

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公司介绍主营产品

北京博宇讯铭科技有限公司（博宇科技）位于北京市大兴区 · 兴创国际中心A座；我们致力于为电子产品的教学、研发、生产、出厂检测，提供可靠的电子测量仪器、射频测试仪器与系统型方案；供应：示波器、记录仪、数据采集仪、信号发生器、频谱分析仪、信号源、网络分析仪、电池测试仪、电源、电子负载、安规测试仪、功率分析仪、热像仪、万用表、充放电测试集成设备、无线充电检测系统等；

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示波器、记录仪、数据采集仪、信号发生器、频谱分析仪、信号源、网络分析仪、电池测试仪、电源、电子负载、安规测试仪、功率分析仪、热像仪、万用表、充放电测试集成设备、无线充电检测系统

产品简介在线询价

安装方式	台式	道数	4
类型	数字示波器	用途	测量示波器
模拟带宽	2 GHz	通道数	4 + EXT
实时采样率	10 GSa/s	波形捕获率	750,000 wfm/s
存储深度	500 Mpts/ch	垂直分辨率	10-bit

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覆盖多种行业的串行协议触发和解码
强大的测量功能
优秀的用户界面和用户体验
高分辨率示波器，满足更高精度的测试需求

亚冠游戏娱乐产品信息

带宽	2 GHz
实时采样率	10 GSa/s（2 GHz带宽型号）
通道数	4 + EXT
存储深度	250 Mpts/CH、500 Mpts/CH（2 GHz带宽型号）
波形捕获率	750,000 wfm/s（Sequence模式）
接口	USB 3.0 Host x2，USB 2.0 Host x2，USB 2.0 Device，LAN，micro SD卡, HDMI, 外触发输入，辅助输出（TRIG OUT，PASS/FAIL）
测量	超过50种参数测量，并支持直方图和趋势图统计
数据分析和数据处理工具	搜索、导航、历史、模板测试、数字万用表、波特图、电源分析（选配）、波形直方图、计数器、抖动和眼图分析（选配）
屏幕	12.1 英寸电容式触摸显示屏，分辨率1280*800

触发类型	边沿（Edge）、斜率（Slope）、脉宽（Pulse width）、窗口（Window）、欠幅（Runt）、间隔（Interval）、超时（Dropout）、码型（Pattern）、视频（Video）、第N边沿、延迟、建立/保持时间、串行触发
串行触发和解码（标配）	I2C, SPI, UART, CAN, LIN
串行触发和解码（选配）	CAN FD, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553B, SENT, Manchester
数字通道（选件）	16 路，500 MSa/s采样率, 12.5 Mpts/ch存储深度； 16 路，1 GSa/s采样率, 50 Mpts/ch存储深度（2 GHz带宽型号）
信号发生器（选件）	外置单通道隔离，输出频率25 MHz，采样率125 MSa/s，波形长度16 kpts
标配探头	SP3050A，500 MHz，每通道 1 套（SDS6104 Pro和SDS6054 Pro）

高分辨率示波器，满足更高精度的测试需求

·12-bit高分辨率ADC采样，更好地呈现波形细节；
·优秀的本底噪声，在2GHz全带宽下的底噪值仅为153 μVrms，让12-bit ADC充分发挥性能；
·典型值±0.5%的直流增益精度

优秀的用户界面和用户体验

·配备12.1 英寸TFT-LCD 大显示屏，分辨率1280*800；
·电容式触摸屏，专门为示波器操作定义的各种手势，极大地提高了仪器操控效率；
·内嵌WebServer，可直接通过网页远程访问和操作示波器；

·支持鼠标和键盘操作；

覆盖多种行业的串行协议触发和解码

SDS6000 Pro提供多种串行协议触发和解码，覆盖多个行业。

I2C, SPI	嵌入式串行协议触发及解码
UART	PC串行协议触发及解码
CAN, CAN FD, LIN, FlexRay ,SENT	汽车串行协议触发及解码
I2S	音频串行协议触发及解码
MIL-STD-1553B	航空航天串行协议触发及解码
Manchester	以太网串行协议解码

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强大的测量功能

SDS6000 Pro可测量超过50种参数，包括水平类、垂直类、通道间延时类和混合测量类。

参数统计功能可显示任意参数的五种测量值：当前值、平均值、最小值、值、标准差；可同时测量统计12种不同的参数。直方图统计可以直观地显示参数的概率分布情况；趋势图可反应参数随时间的变化规律。

此外，对水平方向上的测量（如周期、脉宽等），摒弃了传统的一帧只获得一个测量值的方法，将一帧中的所有水平项目的测量值都计算出来并纳入统计，大大提高了测试效率