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笃挚仪器(上海)有限公司 的 产品和系统解决方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造、精密机械、模具加工、电子电力、铸造、冶金、航空航天、工程建设、大学和其他研究实验室和生产线,质量控制,和教育事业,以评估的几何特征的材料,组件和结构和理化性质, *制造技术的驱动精益求精。
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能,紧凑型且通用的X射线测量仪器,非常适合无损涂层厚度测量和材料分析。XAN 250和XAN 252仪器特别适合于测量和分析薄涂层,即使其成分非常复杂或浓度很小。高性能X射线荧光测量仪,用于快速无损材料分析和涂层厚度测量。高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250,高性能X射线荧光测量仪,配有**进的硅漂移探测器(SDD),可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。
▪ 高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250
▪ 用于高校研究和工业研发领域
预期用途 | 能量色散X射线荧光测量仪(EDXRF)用于测量薄涂层,痕量元素和合金 |
元素范围 | 铝(13)到铀(92)–同时*多24个元素 |
测量方向 | 自下而上 |
X射线探测器 | 硅漂移检测器(SDD) |
分辨率(fwhm for Mn- Kα ) | ≤ 160 eV |
测 量点 | Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品(测量距离0毫米) |
测量 距离 | 0…25毫米(0…1英寸) |
样品定位 | 手动 |
缩放系数 | Digital 1x, 2x, 3x, 4x |
*大样品重量 | 13 kg (29 lb) |
电源 | AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz |
外形尺寸 | 403 x 588 x 365 mm |
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