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  • 公司名称福州中诺电子有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地福州市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/8/26 12:45:49
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福州中诺电子有限公司十多年来立足于的光学制造技术,紧紧围绕着“光学”这个主轴,持之以恒,厚积薄发,自主研发制造和代理了一系列光学仪器、工业物料以及电子产品。 核心竞争力 1:技术功底深厚且潜心笃志的博士科研团队, 2:快速高效、精准专业的售前售后技术服务体系, 3:以及公司自成立初孜孜追求的团结拼搏、恪守诚信的企业文化。 企业文化:士不可以不弘毅,任重而道远 ! 我们将坚持不懈的打造和践行:持续改善、精益求精、力求、一诺千金、言出必行的企业文化。 企业愿景: 打造跻身水平的国产仪器品牌! 展望未来,弘扬工匠精神,潜心笃志,勇攀高峰,为客户提供体验和性价比的检测解决方案,降低客户对进口仪器的依赖程度,与客户一起成长!共创美好明天! 专业研发、生产、销售以及服务项目光学仪器: 明暗场/DIC金相显微镜、体视显微镜、高清视频显微镜、影像测量显微镜、手持式电子显微镜、影像显微测量系统、生物显微镜、生物荧光显微镜分镜、水滴角测试仪、 波片相位延迟度测试仪、光学自准直仪、MTF传函仪平行光管;环境实验: 电子防潮柜、盐雾试验机、高低温试验箱、高低温快速交变试验箱、恒温恒湿试验箱、紫外老化试验箱、蒸汽老化试验机、高精密恒温油槽、冷热冲击机、高温高湿反偏试验机;力学仪器: 电子试验机、伺服拉压力试验机、推力计、硬度计、测力计、机械电磁电动振动试验台、全自动破裂试验机、耐磨耗试验机、跌落试验台、电线扭转试验机;测量仪器;量具: 三坐标、便携式三坐标、投影仪、影像测量仪、一键式测量仪、NIKON高度 计、SONY测厚仪、卡尺、千分尺、千分表、数显高度尺、对比测角仪、粗糙度测量仪理化分析: 分光光度计、光谱仪、色谱仪、紫外光强计、X荧光光谱仪、ROHS检测仪器、液相/气相色谱、VOC检测、红外光谱IR、ONH分析仪、CS分析仪光学辅料: 进口单晶钻石粉、进口多晶钻石粉、抛光粉(高抛/精抛)、研磨液、进口热胶机器视觉方案: CCD相机机器视觉光源冷光源(单支/双支光钎管)、LED光钎冷光源、显微镜荧光环形灯、显微镜LED环形灯、显微镜四档环形灯 显微镜电脑成像系统,数码摄像机,CCD摄像头等;
三坐标测量仪
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随着高能激光的发展,对光学材料提出越来越高的要求,而光学材料由于制造工艺(生长工艺)、原材料杂质的存在,不可避免的存在吸收。随着光学材料研究的进一步深入,人们对于材料吸收系数的研究越来越深刻。研究发现,光学材料吸收电磁波后,能将电磁波能量转换成热能,从而引起光学材料内部温度升高。大的吸收系数是限制高能激光发展的主要因素之一,尤其对于强激光系统。因此,很有必要研究光学材料的弱吸收性能。


激光热吸收测试仪主要采用光热共路干涉法(PCI技术)测量热吸收。 PCI 技术原理图如下:


图中Probe beam(探测光 ) 为一般微弱光束且其在透射过样品时不会产生热吸收, Pump beam( 泵浦光 ) 为一较强光束且被样品吸收从而引起样品被照射处折射率的变化;但在其投射到样品前先通过一斩波器,避免泵浦光长时间连续照射而使样品过分受热损坏,泵浦光和探测光在样品内相交,前者焦斑尺寸小于后者光束截面直径。由于泵浦光被样品吸收从而引起焦点处样品折射率发生变化,使探测光在该点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉,产生 Periodically phase distorted signal( 周期性相位畸变信号 ) PD 为光强信号接收器,接收周期性相位畸变信号,再通过锁相放大器交由软件来计算并给出热吸收率图。

    SPTS激光热吸收测试仪的测量计算原理为:样品对泵浦光的热吸收引起样品材料折射率的变化,导致探测光经过吸收点区域后发生点衍射干涉,材料热吸收强弱引起干涉相移不同,通过 PD 则敏感地探测到探测光光强的变化。这样通过光强的变化就可反推出样品材料的热吸收特征。

在实际测量中,通过移动样品就可以实现对样品的扫描测试。下图为对一 3mm 样品的水平扫描及其在实验观察软件上得到的热吸收率图:


PCI 仪器的特点

. 高灵敏度 : 0.1 ppm

. 快速 : 10ms 单次 , 10um 4mm/S 扫描

样品表面及内部3D测量

. 对表面散射不敏感

PCI 仪器的应用对象

. 薄膜 : 高平均功率激光下的 HR, AR 多层膜

. 玻璃与晶体 : 激光玻璃 , 蓝宝石 , KTP, RTP, LiTaO2,LiNbO3, LBO,   BBO, PPLT, PPLN ..

. 界面 : 光胶 或 胶合界面




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