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真人游戏叫什么

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  • 公司名称长沙科美分析仪器有限公司
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  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/10/15 10:10:37
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长沙科美分析仪器有限公司是2003年由湖南省中医药研究院科研骨干王治国助理研究员创建的的代理销售国内外色谱、质谱、光谱品牌仪器及附属设备和耗材的专业分析仪器公司,公司现有员工15人,下设精密仪器销售部、通用仪器销售部、零配件供应部和技术服务部,公司拥有独立进出口权,代理进口各类实验室仪器设备。公司服务于湖南省制药行业16年,与各级药品食品检测机构、医药有关科研院所和众多药品食品生产企业建立了紧密的合作关系,赢得了良好的市场信誉,也取得了较好的经济效益。公司自成立之日起,便矢志追求这样的理想—我们销售给客户的不仅仅是公司代理的产品,更重要的是为我们的客户提供符合其分析目的要求、满足其发展需要和节约其购买经费的个性化服务方案,将*性、配套性、实用性、经济性以及仪器使用维护成本综合考虑,通过提供优质的售后维护、零配件供应保障和强大的应用技术支持服务,让客户买得起仪器,用得上仪器,也用得起仪器,将仪器有效性能的潜力和能够创造的效益发挥出来,也就是说,我们要将销售服务延续到仪器的后续持续使用的过程中。为客户创造价值被视为科美公司的立命之本、存活之源,我们把人生价值的自我实现落实到高水准的专业素养、热情周到的服务态度以及精诚合作的团队意识上,怀着“科技报效祖国,知识服务人民”的创业初衷,愿与各界新老朋友携手努力,为推动湖南省分析仪器市场的繁荣和分析水准的提高做出不懈的努力。
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真人游戏叫什么 产品信息

真人游戏叫什么

产品介绍:

HD-2700是一款200kV的场发射球差校正扫描透射电镜。相比于普通的透射电镜,HD-2700采用球差校正技术,大大减小了透镜球差对分辨率的影响,从而可以实现超高分辨率的观察。同时,HD-2700是目前少数以扫描透射(STEM)功能为主的透射电镜,大会聚角的STEM功能配合场发射电子枪和球差校正技术可以使HD-2700获得亚纳米级的电子束,使得原子级分辨率的图像观察和元素分析成为了可能,大大提高了电镜的观察和分析能力。

真人游戏叫什么主要特点:

高分辨观察

利用金颗粒保证0.144nm分辨率DF-STEM像(标准型)。

大束流分析

约为非校正的STEM探针电流的10倍,可以进行高速、高灵敏度能谱分析,可以在更短的时间内获得元素的面分布图,使得检测微量元素成为可能。
简化的操作

提供了专用的GUI自动调节球差校正器

整体的解决方案

样品杆与日立FIB兼容,提供了纳米尺度的整体解决方案,从制样到数据获得和zui终分析

多种评价和分析功能可选
可同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得);可以同时观察DF-STEM像和衍射像;可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转)等。

技术参数:

项目 主要参数
电子枪 冷场或热场发射电子枪
加速电压 200kV、120kV*
0.144nm(标准型,配有球差、冷场或热场)
线分辨率 0.136nm(高分辨型,配有球差、冷场)
0.204nm(标准型,配有热场,无球差)
放大倍率 200x - 10,000,000x
图像模式 BF-STEM相衬度像(TE像)、DF-STEM原子序数衬度像(ZC像)、二次电子像(SE像)、电子衍射花样(可选)、特征X射线像(可选:EDX)、EELS像(可选:ELV-2000)
电子光学 电子枪:冷场或热场发射电子枪,内置阳极加热器
透镜系统:两级聚光镜、物镜、投影镜
球差校正器:六极/传输 双重(标准型和高分辨型)
扫描线圈:两级电磁线圈
电位移:±1μm
样品杆 侧插式,X=Y=±1mm,Z=±0.4mm ,T=±30°(单倾样品杆)

应用领域:

HD-2700作为一款场发射球差校正的扫描透射电镜,不仅具有高分辨率的图像观察能力,同样具有高空间分辨率的分析能力,配合EELS和EDS可以实现原子级元素的分析。HD-2700具有多种成像模式,可以满足大部分样品的观察需求,日立*的SE成像模式可以获得透射电镜无法获得的样品表面的信息,同时又比普通扫描电镜具有更高的分辨率,可以实现对样品表面的高分辨观察。

应用文章:

[1] Ciston1, J., Brown2, H. G., D`Alfonso2, A. J., Koirala3, P., Ophus1, C., Lin3, Y., Suzuki4, Y., Inada5, H., Zhu6, Y. & Marks3, L. D. Surface determination through atomically resolved secondary electron imaging.Nature Communications,2005,6, 7358-7365.

[2] Zhu1*, Y., Inada2, H., Nakamura2, K. & Wall1, J. Imaging single atoms using secondary electrons with an aberration-corrected electron microscope.Nature Materials,2009,8, 808-812.

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