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的高性能 SEM
Apreo 扫描电子显微镜( SEM )革命性的复合透镜设计结合了静电和磁力浸没技术,可产生的分辨率和信号选择。这使得 Apreo SEM 成为研究纳米颗粒,催化剂,粉末和纳米器件的平台,同时不会影响磁性样品的性能。
Apreo SEM 得益于的镜头内反向散射检测,即使在倾斜,短工作距离或敏感样品上也能提供出色的材料对比度。新型复合透镜通过能量过滤进一步改善了对比度,并为绝缘样品的成像增加了电荷过滤。可选的低真空模式现在具有 500 Pa 的腔室压力,即使是的绝缘体也能成像。
凭借所有这些选项,包括复合最终镜头,*的检测和灵活的样品处理, Apreo SEM 的性能和多功能性将在未来许多年内满足您的研究挑战。
新型 Apreo 扫描电子显微镜( SEM )可为各种材料(包括纳米颗粒,金属,复合材料和涂层)提供高性能,并结合创新功能,以获得更好的分辨率,对比度和易用性。
•的复合最终镜头在 1 kV 时可提供 1.0 nm 的出色分辨率,无需任何样品的光束减速,即使它是倾斜的或地形的。
•用的反向散射检测 - 材料对比度始终可用,即使在低电压和电子束电流,任何倾斜角度,光束敏感样品和电视速率成像时也是如此。
•的探测器灵活性 - 通过组合各个探测器段的信息,获得最重要的对比度或信号强度。
电子光学:
1.1发射源:钨灯丝(高性能电子光学镜筒,双阳极热发射电子枪)
1.2固定式物镜光阑,无需手动调整使用方便
1.3加速电压:200V – 30kV,自动256级偏压设计
1.4放大倍数:6× - 1000000×
1.5极靴内有一路单独抽真空系统,保证在低真空和环境模式下电子枪高真空和不受污染,延长灯丝寿命
1.6电子束束流:可达到的值不小于2µA,并连续可调
1.7使用工厂预对中灯丝更换方便
真空系统
2.11个250 l/s分子涡轮泵+1个机械泵
2.2高真空模式:<1×10-5 Pa
2.3低真空模式:10 – 130 Pa
2.4环境真空模式:10 – 2600 Pa
2.5高真空模式下的换样时间:≤150秒
2.6低真空及环境真空模式下的换样时间:≤270秒
分辨率
3.1高真空模式下的分辨率
3.1.130 kV下3.0 nm (二次电子)
3.1.230 kV下4.0 nm (背散射电子)
3.1.33 kV下8.0 nm (二次电子)
3.2环境真空模式下的分辨率(以英文样本公布的参数为准,并作为验收指标)
3.2.130 kV下3.0 nm (二次电子)
3.2.2具备独立的环境真空/超低真空模式二次电子探头
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