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全光谱CCD物证拍摄光谱成像系统-现场勘查取证设备、刑事技术取证鉴定设备
美国SEARCH(搜索者) 全光谱CCD光谱成像系统采用了目前*的超高灵敏度背照式CCD,在紫外、可见光和近红外波段具有的量子效率。其在120nm处的高紫外灵敏度对半导体掩膜检测以及测量等应用十分有利。此外,近红外波段的高灵敏度可用于荧光测量、近红外激光二极管测量等等。
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