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X荧光光谱分析仪器是使用X射线照射试样，对产生的X射线荧光进行解析，用以分析试样元素和含量的装置

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X荧光光谱分析仪器是使用X射线照射试样，对产生的X射线荧光进行解析，用以分析试样元素和含量的装置。由于X荧光光谱仪器使用方便、快捷，精度高，成本低等特点，已经在很多行业得到广泛的应用。得到广大客户的认可。

分析元素	Na(11)-U(92)
测试原理	过X荧光激发样品的特征谱分析
X 射线产生装置	采用牛津Rh靶的X光管，设计寿命7-10年。管电压可在5-50KV电压中，每1KV自动控制切换。以便更好的检测样品中的轻金属和重金属元素，从而延长光管寿命。
照射光路	下照式
准直器	8个
X 射线滤镜	5种
X 射线照射面积	Ф8mm、6mm、4mm、3mm、2mm、1mm、0.5mm、0.1mm
探测器	Amptek、高分辨率SDD探测器
探测器制冷方式	电制冷
分辨率	达到145±5eV，同时，超薄窗探测器，对轻元素探测效率
检测器晶体面积	25mm2
数字多道	新数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000cps，精度更高，在合金检测中效果更好
低能光路增强系统	提高对P、S等微含量元素激发效果
状态显示	外置90mm×70mm的液晶屏。液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
真空系统	智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
样品环境	大气或抽真空
测试样品类型	固体、液体和粉未
仪器大小	样品腔面积：¢320mm×（高100mm）
	外形尺寸：660mm×510mm×350mm