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合肥科晶 TFMS-LD 反射光谱薄膜测厚仪
产品概述:
TFMS-LD 反射光谱薄膜测厚仪是一款利用反射光谱测试薄膜厚度的仪器,可快速精确地测量透明或半透明薄膜的厚度而不损伤样品表面的薄膜,是一款无损测厚仪,其测量膜厚范围为15nm-50um,测量膜厚范围广,尤其适用于超薄薄膜厚度的测量。仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm,波长范围广,因此,测试薄膜厚度的范围广。TFMS-LD反射光谱薄膜测厚仪测试系统的理论基础为镜面光纤反射探头,该仪器尺寸小巧可节省实验室空间,操作方便,读数直观,方便于在实验室中摆放和使用。
测量膜厚范围: 15nm-50um
光谱波长: 400 nm - 1100 nm
主要测量透明或半透明薄膜厚度:
合肥科晶 TFMS-LD 反射光谱薄膜测厚仪
特点:
精度: 0.01nm 或0.01%
准确度: 0.2% 或1nm
稳定性: 0.02nm 或0.02%
光斑尺寸: 标准3mm,可以小至3um
要求样品大小: 大于1mm
分光仪/检测器:
光源:
反射探针:
载样台: 测量时用于放置测量的样品
通讯接口: USB 接口,方便与电脑对接
TFCompanion 软件:
设备尺寸: 200x250x100mm
重量: 4.5kg
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