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性能指标:
1、X-射线光源: 采用高强度微聚焦旋转阳极光源,Cu靶,功率2.5K W,管电压50kV,管电流50mA 2、测角仪:四轴(Kappa,ω,2θ,φ)测角仪,?360°旋转 ≤0.02°步长; ?/2? 步长≤0.002°;角度重现性±0.0001° 3、探测器:大面积photon II探测器,探测器有效面积14cm×10cm,探测器到样品的距离马达自动可调
主要应用:
1、精确测定小分子无机物、有机物、配合物以及蛋白质大分子等晶态物质的三维空间结构(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度)及分子在晶格中的实际排列状况 2、可提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。 3、晶体X-射线衍射数据收集、数据处理(还原、校正)、晶体结构解析、分子图、分子堆积图绘制等。
样品要求:
1、送检样品必须为单晶
2、晶体要求表面光洁、颜色和透明度一致
3、单晶表面不附着小晶体,没有缺损重叠、解理破坏、裂缝等缺陷
4、晶体长、宽、高的尺寸均为0.1 ~ 0.4mm ,即晶体对角线长度不超过0.5 mm(大晶体可用切割方法取样,小晶体则要考虑其衍射能力)
5. 晶体质量好,可测无机晶体,有机晶体以及MOF
6. 有机和MOF类单晶,在送样时,应放在母液中,一起寄出
7. 若要解析结构,应提供分子式以及结构式
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