采用垂直同步双观测 (DSOI) 技术的 ICP-OES 等离子体发射光谱仪 SPECTROGREEN

全新革命性的垂直同步双观测（ DSOI ）技术，使传统的径向等离子体观测仪器的灵敏度提高了数倍。

TI 技术带来的高灵敏度，能够实现对痕量元素进行测量，即使在充满挑战性的环境基体也能确保准确度，避免基体干扰。

新推出的 GigE 读出系统，能够在不到 100 毫秒的时间内收集、传输光谱及数据，从而加快分析速度，缩短了样品切换的时间，使单位时间内的样品分析数量大大增加。

灵敏及响应快速的 LDMOS 发生器，不需要外部冷却：具有分析高重的复杂基体的能力 -- 而无需稀释样品 – 仪器开机速度快（约 10 分钟） -- 生产率高

全新 New SPECTRO ICP AnalyzerPro 操作软件采用了简单直观的界面，易于使用

SPECTRO 公司新研发的垂直同步双观测 DSOI 光学系统，为提升 ICP-OES 的灵密度提供了一种全新解决方案。采用该技术解决了等离子体观测的核心问题。该技术采用全新的视角观测并记录垂直燃烧的等离子体所产生的信号，使用两个光学接口，并用一个增强反射镜来捕获等离子体两侧发出的光，以增加灵敏度，巧妙地解决了困扰垂直炬焰双观测所存在的干扰等诸多问题。因此， DSOI 提供的灵敏度是传统径向观测仪器的数倍，同时简单明了地解决了传统垂直双观测所存在的模式复杂、使用成本高等问题。

TI 技术可自动观测水平和垂直向等离子体，可以观测到整个等离子体的信号，大幅提升了灵敏度、线性动态范围，同时避免了易电离元素 (EIE) 等基体效应。凭借这些特点， SPECTROGREEN TI 能避免基体干扰，实现高灵敏度的痕量元素测量，即使在充满挑战性的环境基体也能确保准确度。

SPECTROGREEN SOP 搭载了专用的垂直单观测技术，可在无需垂直同步双观测 (DSOI) 高灵敏度的情况下实现稳定和精确测量。

三种 SPECTROGREEN 版本都能可靠准确地分析废水、土壤、淤泥以及有机、高盐和金属样品等挑战性基体中的元素（痕量和较高浓度），适用于环境、农学、消费品安全、药物、化学品、石化产品和食品等常规分析应用。

SPECTROGREEN 在分析挑战性的高重基体中的痕量元素方面具有显著优势，这类样品包括黑色及有色、石油及化工、污水及废水、土壤及淤泥、高盐和金属等。同时 SPECTROGREEN 光谱仪是环境、农学、医药、食品、及日用品安全等常规分析的理想选择。

SPECTROGREEN 的推出得益于德国斯派克分析仪器公司 40 年的仪器研发制造及服务经验，集多年电感耦合等离子发射光谱（ ICP-OES 、 ICP-AES 及 ICP 等离子体）技术之大成。

SPECTROGREEN ICP-OES 光谱仪预制了斯派克公司专有的 ICP ANALYZER PRO software 软件，简洁直观，易于操作，分析大化。