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SPECTRO XEPOS 台式偏振X射线荧光光谱仪是德国斯派克分析仪器公司推出的新一代仪器。扩展的偏振光学系统使用50W低能量的X射线管作为辐射源，用于Na-U元素的同时分析。从X射线管中发出的原始X射线通过高通量偏振光学系统进行转换，得到的偏振且部分单色的X射线可以高灵敏地测定各种元素。这种分析技术在许多应用中不需要高吸收辐射的滤光片。

SPECTRO XEPOS可广泛地应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例。使用SPECTO XEPOS，在氦气保护状态下，在300秒钟之内，对于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的检测下限在1-7μg/g以上。

XEPOS型X射线荧光光谱仪还可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、(汞)等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对ELV、WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准等。

产品特点

SPECTRO XEPOS采用端窗钯靶50W射线管。可装8个偏振靶和次级靶， 可设定各种不同的激发条件，以确保对从Na到U的元素进行较好的测定。

光闸系统可以确保在更换样品时无需关闭光管，从而提高了系统的稳定性。

SPECTRO XEPOS采用目前*的硅漂移检测器(SDD)。无论计数率如何变化，分辨率均保持一致。光谱分辨率小于160eV(以Mn ka线计)。大的计数率为120,000cps。在高计数率下仍有较高的分辨率，可缩短分析时间、提高分析准确度。

SPECTRO XEPOS的分析性能不仅取决于它采用了功能强大的分析部件及*的偏振技术，而且还取决于其准确的进样设计。德国斯派克分析仪器公司在开发 SPECTRO XEPOS时就专门考虑到进样的问题。高精度样品交换器、新型样品盘的采用可大大减少机械和物力波动对测定的影响，改善分析结果。仪器配备样品旋转装置，可进一步改善测定不均匀样品以及表面不平整样品的分析结果。

SPECTRO XEPOS软件提供了一个简单明了、使用简便的操作界面。选定方法，输入样品识别信息，即可进行测定。通过完备的引导程序，操作者只需通过5个简单步骤即可创建新的分析方法。采用基本参数法PF或采用专门的SPECTRO TurboQuant软件，可轻而易举的完成未知样品的分析。SPECTRO XEPOS可搭载预制的应用软件包。该应用软件包括一套在出厂前就安装和校正好的硬件和分析方法。适用于分析ROHS，废渣，垃圾，油，水泥，炉渣等，SPECTRO XEPOS一机多用，是多功能分析仪器。