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武汉普赛斯仪表有限公司是武汉普赛斯电子技术有限公司的全资子公司，一直 专注 于半导体的性能测试仪表的开发、生产 与 销售， 致力于 满足半导体领域从 材料 、晶圆到器件测试用科学仪器的国产替代需求。
基于普赛斯电子岭先的光学与光电技术、微弱信号处理与抗干扰技术、高速数字信号处理、核心算法与系统集成等技术平台优势，公司 自主研发了高精度台式数字源表、脉冲式源表、窄脉冲电流源、集成插卡式源表、高精度超大电流源、高精度高压电源、数据采集卡等 国产化电性能 测试仪表，以及mini LED测试系统、电流传感器测试系统、功率器件静态参数测试系统等。产品以其测试精度高、速度快、兼容性强、测试范围宽、可靠性高、操作简便以及快捷灵活的响应式服务等优势，广泛应用于新型半导体器件材料分析、半导体分立器件测试、集成电路测试、高校教学实训平台等应用；为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合,帮助用户构建自定义解决方案，同时满足行业对测试效率、测试精度、供应链安全以及规模化的挑战。
普赛斯仪表自主研制的国产化数字源表，可作为电压源和或电流源并同步测量电流和或电压，支持四象限工作。作为国内岭跑的半导体电性能测试仪表提供商，普赛斯仪表凭借长期的技术创新、精益的生产制造、严格的质量体系及国际化视野，推出的产品 已 被国内通信巨图和多家之名半导体企业认可和应用 ， 是为数不多进入国际半导体测试市场供应链体系的半导体电性能测试设备厂商 。未来，公司将继续以“为客户提供醉优质的产品与Z贴心的服务”为宗旨，朝着圈球半导体电性能测试仪表的岭跑者迈进。
中美大都会保险公司电话 优势
频率范围宽 ： 频率范围 10Hz ~ 1MHz 连续频率点可调 ；
高精度、大动态范围： 提供0V~3500V偏压范围，精度0.1% ；
内置CV测试： 内置自动化CV测试 软件，包含C-V（电容- 电压），C-T（电容- 时间），C-F（电容 - 频率）等多项测试测试功能;
兼容IV测试： 同时支持击穿特性以及漏电流特性测试；
实时曲线绘制： 软件界面直观展示项目测试 数据及曲线 ，便于监控；
扩展性强 ： 系统采用模块化设计，可根据需求灵活搭配 ；
方案
普赛斯半导体功率器件 C-V测试系统主要由源表、LCR 表、 矩阵开关 和上位机软件组成 。 LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~ 1 MHz ， 源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置 ， 通过 矩阵开关 加载在待测件上 。
进行C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz 之间。所加载的直流偏压用作直流电压扫描，扫描过程中测试待测器件待测器件的交流电压和电流，从而计算出不同电压下的电容值 。
基本参数
典型配置
电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数，尤其是MOS CAP和MOSFET结构 。 MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数，MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V曲线（简称C-V特性）， C-V 曲线 测试可以方便的确定二氧化硅层厚度dox、衬底掺杂浓度N、氧化层中可动电荷面密度Q1、和固定电荷面密度Qfc等参数； 中美大都会保险公司电话 认准普赛斯仪表
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