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  • 公司名称武汉普赛斯仪表有限公司
  • 品       牌普赛斯仪表
  • 型       号SPA6100
  • 所  在  地武汉市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2024/1/15 9:55:18
  • 访问次数568
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武汉普赛斯仪表有限公司是武汉普赛斯电子技术有限公司的全资子公司,一直 专注 于半导体的性能测试仪表的开发、生产 销售, 致力于 满足半导体领域从 材料 、晶圆到器件测试用科学仪器的国产替代需求。

基于普赛斯电子岭先的光学与光电技术、微弱信号处理与抗干扰技术、高速数字信号处理、核心算法与系统集成等技术平台优势,公司 自主研发了高精度台式数字源表、脉冲式源表、窄脉冲电流源、集成插卡式源表、高精度超大电流源、高精度高压电源、数据采集卡等 国产化电性能 测试仪表,以及mini LED测试系统、电流传感器测试系统、功率器件静态参数测试系统等。产品以其测试精度高、速度快、兼容性强、测试范围宽、可靠性高、操作简便以及快捷灵活的响应式服务等优势,广泛应用于新型半导体器件材料分析、半导体分立器件测试、集成电路测试、高校教学实训平台等应用;为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合,帮助用户构建自定义解决方案,同时满足行业对测试效率、测试精度、供应链安全以及规模化的挑战。

普赛斯仪表自主研制的国产化数字源表,可作为电压源和或电流源并同步测量电流和或电压,支持四象限工作。作为国内岭跑的半导体电性能测试仪表提供商,普赛斯仪表凭借长期的技术创新、精益的生产制造、严格的质量体系及国际化视野,推出的产品 被国内通信巨图和多家之名半导体企业认可和应用 是为数不多进入国际半导体测试市场供应链体系的半导体电性能测试设备厂商 。未来,公司将继续以“为客户提供醉优质的产品与Z贴心的服务”为宗旨,朝着圈球半导体电性能测试仪表的岭跑者迈进。




数字源表,脉冲恒流源,脉冲恒压源,高压源,大功率激光器老化系统,功率器件静态测试系统
上市时间:
创  新 点:
2024-04-30
30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力;

测量精度高,全量程下可达0.03%精度;

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;

提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;

免费提供上位机软件及SCPI指令集;

SPA-6100型星辉娱乐登录年88oo57可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量
星辉娱乐登录年88oo57 产品信息

星辉娱乐登录年88oo57概述:

SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。

基于模块化的体系结构设计,SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。

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产品特点:

30μV-1200V;1pA-100A宽量程测试能力;

测量精度高,全量程下可达0.03%精度;

内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;

自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;

提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;

免费提供上位机软件及SCPI指令集;

典型应用:

纳米、柔性等材料特性分析;

二极管;

MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;

第三代半导体材料/器件;

有机OFET器件;

LED、OLED、光电器件;

半导体电阻式等传感器;

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;

电阻率系数和霍尔效应测量;

太阳能电池;

非易失性存储设备;

失效分析;


系统技术规格

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硬件指标-IV测试

半导体材料以及器件的参数表征,往往包括电特性参数测试。绝大多数半导体材料以及器件的参数测试,都包括电流-电压(I-V)测量。源测量单元(SMU),具有四象限,多量程,支持
四线测量等功能,可用于输出与检测高精度、微弱电信号,是半导体|-V特性测试的重要工具之-。SPA-6100配置有多种不同规格的SMU,如低压直流SMU,低压脉冲SMU,大电流SMU。用户可根据测试需求灵活配置不同规格,以及不同数量的搭配,实现测试测试效率与开支的平衡。


灵活可定制化的夹具方案

针对市面上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点,可
用于二极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiC  MOS、GaN等单管,模组类产品的测试;也可与探针台连接,实现晶圆级芯片
测试。

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探针台连接示意图

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