X 射线探测器系列化 线性探测器 正比探测器、闪烁探测器
使用时需要配置单色器,有效去掉Kβ线。
线性计数:≥5×10
5CPS
能谱分辨率:正比≤25%、闪烁≤50%。
SDD 硅漂移探测器 使用时不需要配置单色器,线性计数:≥1.5×10
5CPS、能谱分辨率≤200eV,较线性探测器,样品测量速度提高4倍以上,可实现高分辨率X射线衍射测量。
高速一维阵列探测器 由640个探测器组成的一维半导体陈列探测器,相比传统的闪烁或正比探测器可以提高衍射强度120倍以上,在较短时间内,获取高灵敏度、高分辨率完整的衍射谱图,并且还有非常好的去荧光能力,即使是测量强荧光的样品,一维半导体陈列探测器提供的数据也展示出非常好的信噪比。
线性计数:≥9×10
9CPS,能谱分辨率:≤25%;有高计数模式及去除荧光背景两种工作模式。
半导体线阵探测器 探测器型号是: MiniPIX 60K 由捷克航空实验室制作,有效面积14×14mm、像素尺寸55µm、像素数量256×256、每个像素计数率大于3×10
6cps。样品测量速度较常规的正比探测器+单色器提高35倍以上。
半导体阵列探测器Si样品衍射谱图