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:产品简介:
美国 NANOVEA 公司是一家的在微纳米尺度上的光学表面形貌测测量技术的，生产的三维非接触式表面形貌仪是目前国际上用在科学研究和 工业领域表面轮廓测量设备之一， 采用目前国际最前端的 白光轴向色差原 理 (性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪)对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的测试分析，通过专业的三维分析软件可得到样品表面的任意参数， 例如:二维高度曲线分布图，二维等高线分布图，三维表面形貌图、孔的深度， 孔的宽度，孔的面积，孔的体积， 台阶高度、一维线粗糙度参数、二维线粗糙度 参数，样品的波纹度、功率谱密度，表面高度分层统计，自相关统计等表面参数的测量。
第二:产品特性 :
◎ 测量 具有非破坏性:采用白光轴向色差技术。
◎ 测量速度快:达 500mm/s 。
◎ Z 方向分辨率:达 2nm 。
◎ Z 方向测量范围为 20mm 。
◎ XY 方向测量范围: 500mm × 400mm ，无需进行图片拼接。
◎ 可测样品的坡度: 87° ，是测高坡度与高曲折度样品的。
◎ 测量 范围广:可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品、金属材料、高漫反射，低反射率、粗糙材料(金属、玻璃、木头、 合成材料、衣服、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙 齿...)。
◎ 不受环境光的影响，测试前可做背底噪声处理；
◎ 不受样品反射率的影响，反射率的范围为: 0.01%-99% 。
◎ 操作简单:样品无需特殊处理，固定放置在工作台上就可进行测试。
◎ 优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪。
第三:测量原理
Nanovea 公司的三维非接触式表面形貌测量仪采用的是国际最前端的白光轴向色差技术(又称为白光准共聚焦技术)实现快速，高分辨率，大范围的三维表面形貌测量及相关参数测量的。
◎ 利用白光点光源，光线穿过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。
◎ 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收到被测物体上单点反射回来的 特定波长的光，从而得到这个点距离透镜的垂直距离。
◎ 这个点为点光源与传感器所在的直线的中垂线与样品的交点。
◎ 再通过点扫描的方式可得到一条线上的坐标，即 X-Z 坐标
◎ 最后以 S 路径获得物体个点的三维 X-Y-Z 坐标
◎ 最后将采集的三维坐标数据交给专业的三维处理软件进行各种表面参数的分析
◎ 软件能够自动获取用户关心的表面形貌参数。
第四:三维专业软件分析
1、 可创建任意区域的 2D 曲线图或 2D 等高线分布图;
2、 可创建任意区域的 3D 图;
3、 自动得到样品的一维线粗糙度参数(Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku);
4、 自动得到样品的二维面粗糙度(Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku);
5、 可得到样品的平整度，波纹度等参数;
6、 自动校准功能，例如粗糙度，一般情况下对于曲面样品，首先展平，然后自动给出粗糙度的参数;
7、 具有尺寸测:长度，宽度，角度，深度
8、 可测孔洞磨损面积，磨损体积等参数;
9、 利用计算机远程控制;
10、 具有功率谱密度测试功能;
11、 具有分形统计功能;
12、 多种格式的图与数据输出。
第五:应用
随着微纳米技术与精密加工技术的发展，对物体的表面参数的测越来越重要，传统的光学显微镜技术与扫描电镜技术已不能满足工业开发对样品进行大 范围、高精度、高速度、定量测量的需要，三维非接触式表面形貌仪由于其的性能，可以解决这些传统技术对三维表面形貌测量限制，越来越多的公司与高校的科研就够开始使用三维非接触式表面形貌仪来进行产品的质量控制与研发， 三维表面形貌仪已成为研究材料表面特性的工具之一。 该设备也被广泛的应用于汽车，摩擦，航天，半导体，腐蚀，岩石,医科材料，造纸，精密 加工，光学，制药等行业。
资料来源：维纳科技，欢迎致电陕西毅杰获取详细的解决方案！
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