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WaveSensor® 系列产品是应用夏克-哈特曼传感器的测量原理研制而成的,并配备专门的操作与分析软件,可用于激光光束质 量及 其
动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜表面面形精度的检测等。利用 WaveSensor®可 获 得
丰富的光束质量及空间、时间信息,可用于研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程。
产品型号及技术参数:
产品型号 | WaveSensor ® 150 |
孔径尺寸 | 15mm×15mm |
阵列 透镜数 | 138×138 |
动态范围 | 2000 λ |
倾斜 测量 灵敏度 | |
精 度 (RMS) | <λ / 20 |
重复性 (RMS) | <λ/200 |
波长 | 405... 1100 nm ( 可扩展 至 350nm) |
接口类型 | IEEE1394B |
产 品尺寸 | 74mm×100mm×144mm |
产品 重 量 | 1000g |
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