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垂直双观测结构(DSOI)提升了灵敏度,同时降低了样品基体效应
以一当二:炬管即可垂直又可水平放置的主机,可快速切换以满足真正的双向观测要求
ORCA光路结构:同时读取130-770nm谱线信号,和通常的中阶梯光栅+棱镜交叉色散的光学系统相比,光强度信号提升可高达5倍,紫外/远紫外区的灵敏度提高
SPECTRO ARCOS型等离子体发射光谱仪(ICP-OES)超越了当代工业和科研领域金属、化学、石化、材料等行业元素分析的要求。
MultiView设计让使用者可以在90秒内将垂直炬管“旋转”成水平炬管,反之亦然。垂直炬管附加了双观测光路接口以增加光通量,提高了灵敏度,降低了基体效应,两全其美。
由CMOS组成的线性阵列检测器,无需制冷,无溢出效应,可记录样品基体强谱线中微弱的目标谱线信号,检测动态范围更宽。
SPECTRO ARCOS具有低故障、高可靠、产品寿命长的特点,使用成本很低。主机底座按照人体工程学设计,将无需吹扫的远紫外密闭光路、风冷系统、智能阀切换(选件)、便携式视频装置等多项斯派克与众不同的技术集合在一起。
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