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1.主机采用数字化面板设计，管流、管压、样品位置、真空度等参数面板直接显示，可以根据分析元素种类不同软件自动调整参数。
2.采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，Be(铍)窗厚200μm，靶材Rh(铑靶)。真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围。
3.采用进口高能量分辨率的电致冷Si-PIN半导体探测器，电致冷,无需液氮制冷，使用方便。探测器分辨率优于160eV(55Fe)。
4.多功能样品室
样品种类：固体、粉末、液体均可，如压片无需添加任何试剂。
腔内多样品座：一次可以放置12个样品，自动控制，精确定位。
腔内环境：空气或真空。
5.高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流O-lmA连续可调。数码显示，精度高，操作。
6.1024道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便地了解样品的组成。
7.可一次性实现多元素的快速、无损、准确分析。
8.自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定。
9.整体设计合理，性能稳定，运行可靠。
10.全中文Windows应用软件，操作简单。

11.分析元素：Na-U，主要是Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn等，分析下限：

主要技术参数：

元素名称    探测下限（%）
 Al         0.01
 Si         0.01
 P          0.01
 S          0.01
 K          0.01
 Ca         0.01
 Ti         0.001
 V          0.001
 Cr         0.001
 Mn         0.001
 Fe         0.001
 Cu         0.001
 Pb         0.001
 Zn         0.001

12.分析范围：1ppm-99.9%.
13.能量范围：1-30keV.
14.测量时间：＜200S.
15.重复性：<0.1%.
16.稳定性：<0.01%.
17.辐射剂量：<25μsv/h.
18.软件优势：
   WinXP界面应用软件，全中文操作系统操作。
   软件数据库功能强大，谱数据显示、谱峰标记、能量定标、净强度、预置时间等.
   所有参数通过软件调节，数码管自动显示，无需手动调节面板。
   谱处理、扣除背景、元素识别、剥离重叠谱自动进行.
   谱峰重叠时，软件可以解谱.
   软件自动稳谱，消除环境变化影响.
   线性拟合、基体校正、结果显示。
19.仪器运行费用为零。

图片展示：

元素名称    探测下限（%）
 Al         0.01
 Si         0.01
 P          0.01
 S          0.01
 K          0.01
 Ca         0.01
 Ti         0.001
 V          0.001
 Cr         0.001
 Mn         0.001
 Fe         0.001
 Cu         0.001
 Pb         0.001
 Zn         0.001

12.分析范围：1ppm-99.9%.
13.能量范围：1-30keV.
14.测量时间：＜200S.
15.重复性：<0.1%.
16.稳定性：<0.01%.
17.辐射剂量：<25μsv/h.
18.软件优势：
   WinXP界面应用软件，全中文操作系统操作。
   软件数据库功能强大，谱数据显示、谱峰标记、能量定标、净强度、预置时间等.
   所有参数通过软件调节，数码管自动显示，无需手动调节面板。
   谱处理、扣除背景、元素识别、剥离重叠谱自动进行.
   谱峰重叠时，软件可以解谱.
   软件自动稳谱，消除环境变化影响.
   线性拟合、基体校正、结果显示。
19.仪器运行费用为零。