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   X 射线镀层测厚仪 Thick880   
 
      --- 专业的金属电镀层测试专家   
 
    
 
    
 
   产品优     势和特点   
 
  *超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面  
 
  *易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果  
    
  *有助于识别镀层成分的创新型功能  
     
  *机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室  
 
  *按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的精确结果  
 
  *使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书  
 
  *用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心  
 
  *Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享  
 
  *有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用  
 
  
 
  测试样品示例  
 
           
 
   仪器应用演示      
 
 1、  打开仪器上盖   
 
  2、放入样品  
 
  3、在软件中点击“开始”按钮,测量完成,显示分析结果  
 
  
  
  
 
  
 
   XRF镀层分析仪硬件性能及优势   
 
  元素分析范围从硫 (S)到铀（U）  
 
  同时可以分析几十种以上元素，五层镀层  
 
  分析检出限可达 2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品  
 
  分析含量一般为 ppm到99.9%  。  
 
  镀层厚度一般在 50μm以内（每种材料有所不同）  
 
  任意多个可选择的分析和识别模型。  
 
  相互独立的基体效应校正模型。  
 
  多变量非线性回收程序  
 
  多次测量重复性可达 0.1%  
 
  长期工作稳定性可达 0.1%  
 
  度适应范围为 15℃至30℃。  
 
  
 
   仪器配置   
 
  高压电源  0 ~ 50KV  
 
  光管管流  0μA ~ 1000μA  
    
  数字多道分析器  
 
  摄像头  
 
  滤光片可选择多种定制切换  
 
  美国进口   半导体   探测器  
 
  测试时间   可调  10sec ~ 100sec  
 
   仪器环境要求   
 
  环境温度   15°C ~ 30°C  
 
  相对湿度   35% ~ 70%  
 
  电源要求   AC 220V±5V, 50/60HZ