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广州标旗光电科技发展股份有限公司成立于2005年，位于国家*产业开发区广州科学城。在光谱快速检测领域深耕10年，熟悉各种光谱快速检测方案的搭建，为化工、光电、材料、农学、生物等不同领域的客户提供了上百种检测方案，2014年被认定为*。公司拥有强大的研发、销售团队，拥有*的创新能力，2015年荣获广州开发区“瞪羚企业”称号，2016年成功认定为广州市研发机构，2016年顺利通过ISO 9001：2015质量管理体系认证。
标旗在“科技创新，真诚服务”的企业核心价值观的下，不断创新和发展，形成集算法开发、软件开发、硬件开发、光路设计及电路设计为一体的研发体系，标旗团队基于光纤光谱仪的应用，开发了不同应用领域的光谱快速检测仪器，不断沉淀与打造自主品牌——科思凯（Qspec）。目前，标旗已拥有一系列具有核心竞争力的科思凯产品，包括：平面光学元件光谱分析仪、球面光学元件显微检测仪、透过率检测仪、珠宝检测仪、近红外光谱检测仪、全光谱层析扫描仪、非接触光学测厚仪、微量紫外分光光度计、物质分析仪和高功率卤素冷光源等。标旗科思凯系列产品仪器优势显著，具有高效、迅速、准确的特点，将“中国创造”的研发理念与攻关思路融入到每项产品的开发中，实现产品应用与科技进步、市场需求紧密结合，不断突破传统技术，实现产业升级改造，实现理论研究与生产应用的转化，真正将创造力作为公司不断向前发展的核心动力，将中国创造内化于企业发展中。
同时，标旗也是许多科技装备企业在国内的*的代理商和经销商，包括：Ocean Optics光纤光谱仪(华南区总代理），PerkinElmer分析仪器、P&P成像光谱仪。
标旗秉承专业、真诚、贴心的服务宗旨，针对客户的需求，量身定制光谱检测应用方案，帮助客户解决科研和生产中的实际问题，全程提供售前、售中和售后服务。标旗的成长离不开客户的支持，目前，公司积累了丰富的技术和客户资源，积极与高校合作，致力于产学研的成长模式；而且努力为同行业者搭建线上和线下交流平台，向客户学习，更好的服务于客户。
科技的发展日新月异，标旗紧跟科技进步与时代发展的步伐，在光谱快速检测道路上不断前行，臻于至善。
TMS 透过率测量仪(ir透过率测量仪)
TMS 是一套全波长的透过率测量仪(ir透过率测量仪)，能快速准确地测量各类平面、球面、非球面等光学元件的相 / 透射率，可用于实时显示单、多点波长透过率数据及波段平均透过率数据。适用于手机盖板 IR 孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面、球面非球面光学元件及组合镜头等的检测。紫外透过率测量仪专为检测样品紫外波段透过率设计。
紫外透过率测量仪
显微透过率测量仪基于普通透过率测量仪的测试原理，增加显微光路和成像 CCD 对测试区域进行精确定位，用小尺寸光斑（ 0.3mm ）测试样品微小区域的相 / 透射率。除了可对玻璃、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的透过率检测之外，特别适用于手机盖板 IR 孔、菜单键、返回键等微小区域的透过率检测。
TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪)- 技术参数
| 型号 | TMS （ I 型） | TMS （ Ⅱ 型） | TMS （ III 型） |
| 探测器 | Sony 线形 CCD 阵列 | Hamamatsu 背照 2D-CCD | Hamamatsu 背 2D-CCD |
| 检测范围 | 380-1000nm ( 紫外 :200-850nm) | 380-1100nm ( 紫外 :200-1100nm) | 360-1100nm ( 紫外 :225-1000nm) |
| 信噪比（全信号） | 250 ： 1 | 450:1 | 1000 ： 1 |
| 相对检测误差 | ﹤ 0.6% （ 410-900nm ） | ＜ 0.4% （ 410-1000nm ） | ﹤ 0.2% （ 410-1000nm ） |
| 检出限 | 0.1% | 0.05% | 0.01% |
| 单次测量时间 | ﹤ 1s | ||
| CCD 制冷 | 未制冷 | 未制冷 | -20 ℃ |
| 样品尺寸 | ≥ Φ1.5mm ( 显微 : ≥ 0.8nm) | ||
| 光斑 | 可调， ≥ Φ0.6mm （显微 ≥ Φ0.3mm ） | ||
| 操作系统 / 接口 | Windows XP, Windows | ||
| 电源 / 功率 | 220V-50HZ /6W | ||
TMS 透过率测量仪- 的软件设计
l 智能化软件操作 : 可自定义测量方式和角度，实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据，自动调整显示坐标范围，高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。
l 谱图管理 : 可同时记录多达20个样品谱图，批量保存测量结果，记录谱图测试积分时间，能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作，地方便了谱图的管理和分析。
l 自定义测量方案 : 用户可以自行定义测量的方案，同时设置判定标准，使检测更快速，结果更准确。
l 谱图数据处理功能 : 备有丰富的光学元件数据库，可根据数据库已存标准数据对比分析结果，用户可自行对数据库进行添加、修改和删除，还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。
l CIE 颜色测量功能 : 可以计算样品各种CIE颜色参数， x，y，L,a,b,饱和度，主波长等。
l 数据报告打印功能 : 可快速批量打印样品测量数据及谱图，自定义测量报告出具单位名称。
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