组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20
描述
组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 组合测量站是轮廓和粗糙度测量的理想选择。
此测量站包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。
两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱 (ST 500/ST 750)上,可用于粗糙度 (GD 25) 或轮廓(PCV 或 CD 120)测量。
结合 XCR 20 测量和评定软件,此测量站配置可用作通用型测量站测量粗糙度深度和轮廓。
主要优势有:
一个测量站适合两种测量任务
* 使用经过检验和测试的 PCV 200 轮廓驱动和测头系统(如上文所述)。
* 使用高精度 GD 25 和 MFW 250 B 测头和高分辨率测量系统测量粗糙度
另外,此联合测量站还可改装为 XC 20 配置。换句话说,如有需要,您可使用 PCV / CD 120 驱动单元方便地将 XC 20 测量站升级为联合测量站。只需添加 GD 25 驱动单元和联合支架。软件需要从 XC 20 升级为 XCR 20。
接触速度(Z方向) | 0.1-1mm/s |
测杆长度 | 175mm,350mm |
测量速度(文本) | 0.2mm/s至4mm/s |
针尖半径 | 25 |
扫描长度末尾(X方向) | 200mm |
分辨率 | Z方向,相对探针针头: 0.38μm(350mm测杆)/0.19μm(175mm测杆) Z方向,相对测量系统:0.04μm |
扫描长度开始(X方向) | 0.2mm |
取样角 | 在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至88°,前缘高至77° |
定位速度(文本) | X方向返回速度:0.2至8mm/s Z方向:0.2至10mm/s |
导块偏差 | <1μm(200mm以上) |
测量原则 | 探针法 |
输入 | R测头,MFW250 光学测头Focodyn*、LS 1*、LS 10* (*仅结合PGK或GD 120 CNC驱动装置) |
测量范围mm | (in Z)50mm MFW 250:±25μm,±250μm,(±750μm);±1000μm,±10000μm(±30000μm) |
扫描长度(文本) | 自动;0.56mm;1.75mm;5.6mm;17.5mm,56mm, (.022/.070/.224/.700/2.240英寸) 测量至挡块,可变 |
采样长度数量符合ISO/JIS | 1至50(默认:5) |
测量力(N) | 1mN至120mN左右(可在MarSurf XC 20中设置) |
MarSurf XCR 20
包含 Midrange 标准控制单元、 XCR 20 软件、 Mahr 许可密钥
MarWin PC*
TFT 24“ 显示器
MCP 21 手动控制面板
GD 25 驱动单元
MFW 250 B 测头系统套件
PCV 200 驱动单元
标准轮廓校准套件
ST-500 测量立柱
GD 25 和 PCV 联合支架
CT 300 XY 工作台
PPS 平口虎钳
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