奥富森提供的 XRF 薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备；具有膜层厚度控制精确，厚度均匀，性能稳定等优点，元素纯度可达 99.9% 以上；同时综合 ICP 和 XRF 等检测技术，可精确标定薄膜标样的负载量。

《 HJ 830-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散 -X 射线荧光光谱法》以及《 HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散 -X 射线荧光光谱法》均要求使用薄膜标样建立仪器的工作曲线。

XRF 薄膜标准样品分 SL(0.5-2μg/cm²) 、 VL(3-5μg/cm²) 、 L(15-25μg/cm²) 、 R(40-60μg/cm²) 、 H(80-120μg/cm²) 五个负载量系列，其他负载量的产品可根据客户实际需求定制。

可供应的 XRF 薄膜标准样品的元素如下（可在表格内打√选择样品）：

可提供超纯铝杯用于 XRF 测定大气颗粒物的辅助设备，用以消除或减小合金材料样品杯对样品结果的影响；采用*标准样品研究所提供的湖南重金属污染标准土壤样品，参考 NIST 2783 标样制备方式研制成功混合元素薄膜样品，可用于 XRF 分析方法的验证以及 XRF 实验室日常质控工作。

XRF 薄膜标准样品的安装形式：

1. 安装环尺寸（厚度为 1.5mm 的亚克力玻璃）

* 36 号尺寸。

方形：

50x50mm 方形尺寸，内置 ø32mm 的圆环，代码 50 。

1. 支撑膜材料

• M6.3 型材料。

镀膜方式：