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产品介绍
能量色散 X 荧光分析仪利用 EDXRF 技术,采用 X 光管产生 X 射线激发样品,*的 SDD 探测器探测元素特征 X 射线, 2048 道数字化全谱分析,可以分析包括轻元素在内几十种元素,具有分析速度快、分析精度高、分析范围广、稳定性好、操作简单等特点。
在铜合金等金属制造行业中,材料、半成品、成品的质量保证与质量控制 (QA/QC) 是的,该仪器是质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的优选仪器。生产者可以控制合金中的元素各成分含量,提高产品性能、减少次品和废品,提高经济效益。
主要用途
主要用于铜合金、铝合金、锌合金、铸铁等原材料检验,冶炼生产过程成分控制,成品元素成分定值,炉前合金的快速分析和成品分析。
性能特点
☆ . 采用了美国新型的电致冷硅漂移 SDD 半导体探测器,具有高分辨率( 125eV )和高探测效率 ;
☆ . 采用高真空度测样装置,消除了空气对低能 X 射线的阻挡,满足 RoHS 或合金检测时对轻元素的准确分析;
☆ . 采用大功率的正高压 X 光管和高压发生器,提高了对轻重元素的检测下限,实现了对多种元素的同时快速检测分析;
☆ . 自动开盖,无限平台的设计适应多种不同大小规格样品的检测,可以测量固体、 液体、粉末样品;
☆ . 内置彩色 CCD 摄像头,使用户可以精确定位检测区域及时记录所测样品图像信息;
☆ . 一体化的设计,使得仪器的性能稳定可靠、故障率低;
☆ . 采用 USB-CAN 适配器与计算机进行通信,使用方便;
☆ . 自动切换的滤片装置有效的降低了光管的散射本底,提高了仪器测量的峰谷比和分辨率,使得重元素和微量元素的测量更准确;
☆ . *的全数字化多道谱仪让仪器测量时的数据采集和处理更加快速准确,极大的提高了仪器的稳定性和抗干扰的能力;
☆ . 自带数据库管理系统的全中文测量软件让仪器的测量更加方便,操作更加简单;
☆ . 多重安全的防护设计,使仪器的整机辐射*符合国家辐射防护标准,让用户用的放心。
技术指标
1. 分析元素范围: Na-U
铜合金: Cu 、 Ag 、 Sn 、 Ni 、 Fe 、 Si 、 Zn 、 S 、 Cd 、 Pb 、 Cr 、 Zr 、 Mg 、 Co 、 Mn 、 Sb 、 Al 、 As 、 P 、 Se 、 Te 等;
铸铁: Ti 、 As 、 Si 、 P 、 Al 、 Cu 、 Sb 、 Nb 、 Ni 、 Mo 、 Mn 、 Cr 、 V 、 Mg 等;
不锈钢: Mn 、 Mo 、 Ni 、 Cu 、 Cr 、 P 、 S 、 Si 、 V 、 W 、 Ti 、 Pb 、 Alt 、 Co 、 Nb 、 Sn 、 As 、 Sb 、 Bi 、 Zn 等;
2. 元素含量分析范围: 0.07ppm ~ 99.9% ;
3. 探测器:电致冷硅漂移 SDD 半导体探测器(分辨率优于 139eV ) ;
4. 测量范围: 1 ~ 45KeV ;
6. 高压: 5kV ~ 50kV ;
7. 管流: 5 μ A ~ 1000 μ A ;
8. 整机额定功率: 50W ;
9.CDD 摄像头分辨率: 500 万像素;
10. 真空泵额定功率: 550W ;
11.10 秒钟真空度可达 10-2Pa (高真空区域 10-1 ~ 10-5Pa ) ;
12. 检测时间: 120s ~ 300s (时间随样品不同可调整) ;
13. 仪器重量: 65Kg ;
14. 仪器尺寸: 720 ( W ) X440 ( D ) X435 ( H ) mm
实测谱图
使用特点