万喜堂彩票官网平台 X射线衍射仪 系列组合式多功能（Ultima IV）

一、仪器简介：

组合式多功能 X 射线衍射仪 Ultima IV 系列是一种高性能多功能的粉晶 X 射线衍射仪，它采用了理学*的 CBO 交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括 In-Plane 在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。

二、技术参数

1. X 射线发生器功率为 3KW

2. 测角仪为水平测角仪

3. 测角仪zui小步进为 1/10000 度

4. 测角仪配程序式可变狭缝

5. 高反射效率的石墨单色器

6. CBO 交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带 Mirror ）（理学）

7. 小角散射测试组件

8. 多用途薄膜测试组件

9. 微区测试组件

10. In-Plane 测试组件（理学）

11. 高速探测器 D/teX-Ultra

12. X 射线衍射 - 差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC

13. 分析软件包括： XRD 分析软件包、 NANO-Solver 软件包、 GXRR 软件包等

三、主要特点：

组合式多功能 X 射线衍射仪 Ultima IV 系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。

可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。

可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有：

1. 粉末样品的物相定性与定量分析

2. 计算结晶化度、晶粒大小

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld 结构分析

5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度

6. In-Plane 装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

7. 小角散射与纳米材料粒径分布

8. 微区样品的分析