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万喜堂app下载官方入口 日本奥林巴斯Olympus 38DL PLUS测厚仪

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产品型号38DL PLUS

品       牌

厂商性质其他

所  在  地 上海市

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更新时间:2022-10-18 10:11:53 浏览次数:141次

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产品简介

38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可地适用于几乎所有超声测厚应用,而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用,包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量,以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的精确的壁厚测量。

详细介绍

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38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可地适用于几乎所有超声测厚应用,而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用,包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量,以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的精确的壁厚测量。 38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能,以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求,可以抵御潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在*的黑暗中都能具有良好的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。


双晶与单晶探头
坚固耐用,设计符合IP67标准
度测量范围为0.08毫米~635毫米
彩色透反VGA显示



这款测厚仪与其他测厚仪有何不同?

38DL PLUS测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求,而且可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场多么潮湿、有多大的尘沙、多么寒冷或多么炎热、多么明亮或多么黑暗,38DL PLUS都可以正常进行检测工作。如果您需要一款防撞击、防坠落、坚固结实的测厚仪器,那么,符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS正是您要寻找的仪器。


主要特点:

可与双晶和单晶探头兼容。

宽泛的厚度范围: 0.08 毫米~ 635 毫米,根据材料和所选探头而定。
使用双晶探头进行腐蚀测厚。
穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
内部氧化层 / 沉积物软件选项。
对于所有探头,标准分辨率为 0.01 毫米。
使用频率范围为 2.25 MHz 30 MHz 的单晶探头,

高分辨率软件选项可进行分辨率为 0.001 毫米的厚度测量。

多层软件选项可对多达 4 个不同层同时进行测量。
高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
厚度、声速和渡越时间测量。
差分模式和缩减率模式。
时基 B 扫描模式;每次扫查可获得 10000 个可查读数。
带有数字式过滤器的 Olympus 高动态增益技术。
用于自定义 V 声程补偿的 V 声程创建功能。
设计符合 EN15317 标准。




简便操作的设计理念

可用右手或左手单手操作的简洁的键区。

可直接访问所有功能的简便易行的操作界面。
内置和外置microSD存储卡。
USB和RS-232通讯端口。
可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器。
可连接计算机或显示器的VGA输出。
默认或自定义双晶探头设置。
默认或自定义单晶探头设置。
密码保护功能可以锁住仪器的功能。



对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量:

38DL PLUS测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或 侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、外壳及其他结构的剩余厚度。这些应用中常使用的是双晶探头。


用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能。
10个自定义双晶探头设置。
校准过程中用 于双晶探头的优化默认增益。
用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
校准过程中出现回波加倍时使用的校准加倍功能。
用于测量带有漆层和涂层 表面的材料的穿透涂层和回波到回波测量功能。
高温测量:温度可高达500°C。
锅炉管件和内部氧化层测量(可选项),使用M2017或M2091单晶探头。
EMAT探头(E110-SB),用于对外部附有氧化层/沉积物的锅炉管件进行不使用耦合剂的厚度测量。



对塑 料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料进行厚度测量

用户使用单 晶探 头可 以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我们提供各种频率、直径和接口类型的单晶探头。用户使用高分辨率软件选项可以进行分辨率为0.001毫米的精确的厚度测量。


对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。

在使用频率范围为2.25 MHz~30 MHz的单晶探头的情况下,

高分辨率软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。

高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
多层软件选项可对多达4个不同层的厚度同时进行测量。
测量厚度、声速或渡越时间。
带有默认和自定义设置的自动调用应用简化了厚度测量。

技术参数

测量

双晶探头测量模式

从激励脉冲后的精确延时到个回波之间的时间间隔。

穿透涂层测量模式

利用单个底面回波(使用 D7906-SM D7908 探头),测量金属的实际厚度和涂层厚度。

穿透漆层回波到回波测量模式

在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。

单晶探头测量模式

模式 1 :激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。

模式 2 :延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。

模式 3 :在激励脉冲之后,位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。

氧化层模式:可选。

多层模式:可选。

厚度范围

0.080 毫米~ 635.00 毫米,视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。

材料声速范围

0.508 mm/μs 13.998 mm/μs

分辨率(可选择)

低分辨率: 0.1 毫米

标准分辨率: 0.01 毫米

高分辨率(可选项): 0.001 毫米

探头频率范围

标准: 2.0 MHz 30 MHz -3 dB

高穿透(可选项): 0.50 MHz 30 MHz -3 dB

一般规格

工作温度范围

-10°C 50°C

键区

密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈。

机壳

防撞击、防水、装有密封垫的机壳;机壳上的接口密封。设计符合 IP67 标准。

外型尺寸(宽 x x 厚)

总体尺寸: 125 毫米 x211 毫米 x46 毫米

重量

0.814 公斤

电源

AC/DC 适配器, 24 V ;锂离子电池, 23.760 Wh ;或 4 AA 辅助电池。

锂离子电池供电时间

工作时间:*少 12.6 小时,一般 14 小时,*多 14.7 小时。快速充电: 2 小时到 3 小时。

标准

设计符合 EN15317 标准。

显示

彩色透反 VGA 显示

液晶显示,显示屏尺寸: 56.16 毫米 X 74.88 毫米

检波

全波、 RF 波、正半波、负半波

输入 / 输出

USB

1.0 从接口。

RS-232

有。

存储卡

*大容量: 2 GB 外置 microSD 存储卡。

视频输出

VGA 输出标准。

内置数据记录器

数据记录器

38DL PLUS 通过标准 RS-232 串口或 USB 端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。

容量

475000 个厚度测量读数,或 20000 个带厚度值的波形。

文件名称、 ID 编码及注释

32 位字符的文件名, 20 位字符的字母数字位码,每个位有四个注释。

文件结构

9 个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。

报告

机载报告总结了数据统计、带有位置信息的*小值 / *大值、*小值回顾、文件比较及报警报告。



关键词:测厚仪 显示器
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