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u 几个不同的型号包括了从 200 至 2150 nm光谱测量范围
u 背向照明CCD探测器保证了的灵敏度
u 最短的测量时间 – 大约毫秒级
u USB或PCI界面
u 得益于可以自由选择的中性衰减片仪器有非常宽的强度测量范围
u 所有的INSTRUMENT SYSTEMS测量配件均采用光学光纤连接
u 适合于研发部门和生产部门的软件解决方案
u 完善的发光二极管，显示器件和闪烁灯的测量系统
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