万喜堂app下载彩票 KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机

台阶仪ET200A产品参数

ET200A基于Windows 操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半 导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、 薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高 精度表面形貌分析应用。ET200A 能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨 损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 ET200A 配备了各种型号探针，提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头，彩色CCD 原位采集设计，可直接观察到探针工作时的状态，更方便准确的定位测试区域。

更多小坂进口台阶测量仪器产品功能和报价问题，您可在线咨询或给我们来电： ，质朋仪器贸易上海有限公司将时间与您联系。