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一、仪器的用途 透反射热台偏光显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业zui常用的专业实验仪器。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。 专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子材料学而研制。观察高聚物熔融和结晶过程中的形态, 结晶速率及动力学计算；观察双折射体的光学效应；微生物形貌观察；组织细胞核、壁形态观察；地质材料偏光形态观察；无机晶体材料观察 , 特别对含有结晶体的材料进行热性能变化的研究更为重要。

二、技术参数

1．目镜

类别	放大倍数	视场（mm）
大视野目镜	10X	Φ 20
分划目镜	10X	Φ 18

2．物镜

类别	放大倍数	数值孔径（NA）	盖玻片厚
无应力平场 消色差物镜	5X	0.12	-
	10X	0.25	-
	40X	0.65	-
	60X	0.85	-

3. 光学放大倍数：50X--600X 系统放大：50X-2200X
4.目镜管：转轴式（倾斜 30° ），内置检偏器 , 可自由切换正常观察与偏光观察 , 推入式
勃氏镜, 中心可调 ,λ 补偿器 ,λ/4 补偿器 , 石英锲补偿器
5.透射照明： 6V 20W 卤素灯 , 亮度可调 , 起偏器可 360° 旋转有 0 、 90 、 180 、 270 四个读数
反射照明: 6V 20W 卤素灯 , 亮度可调 , 起偏器可旋转；
6.载物台：机械式附加旋转台面 尺寸 φ100mm ， 360° 旋转
7.调焦机构：粗微动同轴，齿轮转动 , 带限位及调节松紧机构
8.聚光镜：阿贝聚光镜 NA1.25 ，升降上下可调
9.防霉系统 : 防霉
10.成像系统 : 配置日本 JVC 9501 高像素CCD, 像素达 47 万；

.高精熔点测定仪 （ 具体参数见熔点仪资料 ）
① 精密温度控制仪显示窗口由上下二排四组数子及文字（英文）组成。
上排：温度测量显示组，下排 ：温度设定显示组. 数显方式 : 整数显示
② 恒温范围：室温 --- 5 00 ℃, 恒温精度：全范围 ≤±0.5℅, 恒温系统波动度： ±1℃
如作熔点测量, 则只能间接测量 ; 必须通过标准物质熔点校正得到修正值后 , 再进行测量 .
此仪器只能测量相对温度, 不能测量温度 ; 仪器显示温度不等于物质的实际温度 .
③ 温度速度：可设置升温速度范围 （ 可调 ） ： 0.5---36 秒 /℃
zui大升温速度：室温---1 5 0℃≤40秒
zui慢升温速度达36 秒 /℃, 达 5 00 ℃时间： 30 0分钟
即刻恒温响应时间：≤0.01 秒
④ 热台尺寸 : 厚度 :12mm; 大小 :Φ110mm; 高温区 : Φ30mm, 通光孔 : Φ4mm
⑤ 热台的外体与高温度采用三根陶瓷分开隔热 ; 在中心温度 5 00℃,室温 25℃ 时 , 热台外
体温度≤ 40 ℃,热台zui大载物重量： 200 克
⑥ 热台传感器 : 高精度的双传感器 , 连接热台与温控仪

三、系统组成

电脑型 （XPR- 400C） ：1. 偏光 显微镜 2.适配镜 3. 摄像器 4.A/D（ 图像采集 ） 5. 500度 热台 6、计算机（选配）

数码型 （XPR- 400D ）： 1 偏光 显微镜 2.适配镜 3. 数码相机 4. 500度 热台

四、总放大参考倍数
XPR- 400C 型：50-- 2 400倍 XPR- 400D 型：50--2000 倍

五、选购件
1．目镜： 16X（Φ11mm） 2 ．物镜： 20X 50X 80X 100X
3．移动尺 （30X25mm） 4．图像测量软件

5、偏光分析软件

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