50000v电压击穿试验仪 参考价: 面议
5000v电压击穿试验仪主要用于绝缘纸及纸板、层压板、绝缘管、线棒、塑料、薄膜、柔软复合材料、浸渍树脂、橡胶、绝缘胶、陶瓷等绝缘材料的击穿电压、电气强度、耐电压...BDJC-100KV高分子材料击穿强度测试仪 参考价: 面议
BDJC-100KV高分子材料击穿强度测试仪可实时绘制试验曲线,显示试验数据,判断准确,并可保存,分析,打印试验数据。并且能够自动判别试样击穿并采集击穿电压数据...IEC 60243绝缘材料电气强度试验仪 参考价: 面议
IEC 60243绝缘材料电气强度试验仪BDJC-50KV采用计算机控制,通过人机对话方式,完成对绝缘介质材料的工频电压击穿,工频耐压试验。玻璃钢介电强度测试仪 参考价: 面议
玻璃钢介电强度测试仪BDJC-50KV用计算机控制,通过人机对话方式,完成对绝缘介质材料的工频电压击穿,工频耐压试验。漆膜材料击穿强度试验仪 参考价: 面议
漆膜材料击穿强度试验仪电压击穿试验仪采用计算机控制,通过人机对话方式,完成对绝缘介质材料的工频电压击穿,工频耐压试验。绝缘子永乐视频大全 参考价: 面议
绝缘子永乐视频大全是根据GB1408.1生产检验工作的仪器主要用在绝缘材料如:硫化橡胶,薄膜,硬质纸板,等绝缘材料的击穿电压强度的试验。可以做硫化橡胶,硬质塑...硫化橡胶电气强度试验仪 参考价: 面议
硫化橡胶电气强度试验仪-制作标准 GB1408 高压验仪采用计算机控制,通过人机对话方式,完成对绝缘介质材料的工频电压击穿,工频耐压试验。适用于对固体绝缘材料(...硫化橡胶介电强度测试仪 参考价: 面议
硫化橡胶介电强度测试仪BDJC-50KV 由电脑控制,数据采集方式通过光电隔离,有效解决试验过程中的抗干扰问题,软件操作使用方便,能够实时显示动态曲线,同时升压...薄膜耐电压击穿试验仪 参考价: 面议
薄膜耐电压击穿试验仪BDJC-10KV可实时绘制试验曲线,显示试验数据,判断准确,并可保存,分析,打印试验数据。并且能够自动判别试样击穿并采集击穿电压数据及泄露...绝缘材料耐压测试仪 参考价: 面议
绝缘材料耐压测试仪BDJC-50KV主要适用于固体绝缘材料如:电线套管、树脂和胶、浸渍纤维制品、云母及其制品、塑料薄膜、陶瓷、玻璃、绝缘漆、硫化橡胶、电缆纸、绝...北京北广硫化橡胶击穿场强检测仪BDJC-50KV 参考价: 面议
北京北广硫化橡胶击穿场强检测仪BDJC-50KV主要用于绝缘纸及纸板、层压板、绝缘管、线棒、塑料、薄膜、柔软复合材料、浸渍树脂、橡胶、绝缘胶、陶瓷等绝缘材料的击...2015药典TOC总有机碳分析仪 参考价: 面议
2015药典TOC总有机碳分析仪测量范围:0.001mg/L~1.0mg/L(传感器可定制,浓度可调节)精 度:±4% 测试范围分 辨 率:0.001...生产绝缘强度耐电压击穿试验仪的厂家 参考价: 面议
生产绝缘强度耐电压击穿试验仪的厂家\介电击穿强度试验仪主要适用于固体绝缘材料如:电线套管、树脂和胶、浸渍纤维制品、云母及其制品、塑料薄膜、陶瓷、玻璃、绝缘漆、硫...环氧树脂硫化橡胶绝缘油高温电压击穿试验仪 参考价: 面议
环氧树脂硫化橡胶绝缘油高温电压击穿试验仪:在绝缘油中做高温试验另配高温油浴装置,可单置,可做成一体机
北京PE绝缘材质电压击穿试验仪厂家 参考价: 面议
北京PE绝缘材质电压击穿试验仪厂家:仪器配备先进的故障报警系统 避免用户操作故障仪器发生危险。(上位机报警和下位机报警、和零电压报警。)【供应进口配置耐电压试验仪 参考价: 面议
【供应进口配置耐电压试验仪\电压击穿试验仪】 1、试验过程中可动态绘制出试验曲线,试验的曲线可以多种颜色叠加对比,局部放大,曲线上任意一段可进行区域放大分析;2...玻璃材料电阻率测试仪* 参考价: 面议
玻璃材料电阻率测试仪*具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便, 适用于防静电产品 如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防树脂云母体积表面电阻率测试仪静电活...绝缘塑料薄膜电气强度击穿电压试验仪 参考价: 面议
绝缘塑料薄膜电气强度击穿电压试验仪变压器绝缘纸耐电压强度击穿试验仪 参考价: 面议
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电击穿试验仪由电脑控制,是我公司自主研发的全新第三代介电击穿检测仪器,电子控制系统是通过西门子PLC控制,数据采集方式通过光电隔离,有效解决试验过程中的抗干扰问...厂家批量批发绝缘材料电压击穿试验仪 参考价: 面议
厂家批量批发绝缘材料电压击穿试验仪主要适用于固体绝缘材料如:塑料薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘油、绝缘漆、纸板等介质在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压时...
高分子材料电气强度测试仪市场价格 参考价: 面议
电击穿试验仪由电脑控制,是我公司自主研发的全新第三代介电击穿检测仪器,电子控制系统是通过西门子PLC控制,数据采集方式通过光电隔离,有效解决试验过程中的抗干扰问...