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万喜堂app下载网页版配备高精度垂直型测角仪，适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。
X射线衍射分析方法可实现无损的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰强度,衍射峰线形等信息可以进行材料晶体结构的表征,如:点阵常数的精 密测定,晶粒尺寸和微观应变计算,宏观残余应力测定,结晶度计算等;X射线衍射分析方法是材料微观结构表征常规和较有 效的方法之一。
Ｘ射线衍射仪可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精 密Ｘ射线结构解析等各种分析。
LabX XRD-6100配备高精度垂直型测角仪，适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。

XRD-6100具有本质安 全结构。
只有门连锁机构闭锁时，X射线管才能开启，具备高安 全性。
配备高速运转（1000°/min）及高精度角度重 现性（±0.0001°）的垂直型测角仪，可进行各种样品的测定。
驱动机构为独 立2轴驱动，可选择θ-2θ联动或θ、2θ轴独 立驱动，特别对薄膜测定行之有 效。
备有丰富的附件（软件/硬件）来满足多种需要。
对应工业环境测定标准/工业环境评价标准修订
X射线衍射仪XRD-6100 环境测定包
适合工业环境中的游离硅及石棉的定性/定量分析。