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哈氏槽,离心机,库仑测厚仪,孔铜测厚仪,X射线测厚仪,可焊性测试仪,离子污染测试仪,电镀添加剂分析仪,CVS,辐射测量表,金相切割机,金相磨抛机,镶嵌机,砂纸,绒布,抛光粉,液,膏,水质测试包,水质分析仪,EXTECH,铜箔测厚仪,孔规(销售维修电话:)
美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪
11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。
基本规格:
X射线发生部 | 电压 | zui大50kV,多段电压切换 |
电流 | 4-1000μA,可做自动调整设定 | |
准直器 | 共五个 | |
侦测器 | Pin or Si | |
检测器 | 冷却方式 | 电子冷却 |
五种滤波器自动切换 | | |
电源 | AC110~240V, 50/60 Hz |
应用领域:
镀层厚度分析 |
(1)分析CIGS各镀层的厚度及成份同时测量。 |
其他型号:
薄膜太陽能檢測設備:
應用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:*能提供NIST標準樣品,快速(60秒內)非破壞檢測。
● 生產製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設備商turn-key使用,直接OEM與生產製程端整合。
● 即時監測設備(In-Situ) SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內檢測,可耐高溫至 300°C。
● 產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH:適用於各種製程產線上不同檢測點上,可依現場Layout 做不同方式進樣。
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