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互博国际备用网址用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜
蔡司Sigma 500电子扫描显微镜产品介绍:
蔡司公司推出的Sigma 500场发射扫描电镜采用成熟的GEMINI光学系统设计,分辨率超过0.8nm,为您提供分辨率和分析性能科研平台。Sigma500专注于的EDS几何学设计使您可以获取的分析性能。借助Sigma直观便捷的四步工作流程可以快速成像、简化分析程序、提高工作效率。您会比以往更快、更多的获取数据。多种探测器的选择使Sigma500可以精准的匹配您的应用程序:您可以获取微小粒子、表面、纳米结构、薄膜、涂层和多层的图像信息。
蔡司sigma扫描电镜技术参数:
分辨率: 0.8nm @15 kV 1.6 nm @1kV
放大倍数:10-1,000,000×
加速电压:调整范围:0.02-30 kV(无需减速模式实现)
探针电流: 4pA-20nA (40nA&100nA可选)
低真空范围:2-133Pa(Sigma 500VP可用)
样品室: 358 mm(φ),270.5 mm(h)
样品台:5轴优中心全自动
X=125 mm(可选130mm)
Y=125 mm(可选130mm)
Z=50 mm
T=-10o-90o
R=360o 连续
系统控制:基于Windows 7的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制
Sigma 500产品应用
sigma扫描电镜广泛用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、 地质 勘探、病虫害的防治、灾害(火灾、失效分析)鉴定、刑事侦察、 宝石鉴定 、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。在材料科学、金属材料、陶瓷材料半导体材料、化学材料等领域,进行材料的微观形貌、组织、成分分析。各种材料的形貌组织观察,材料断口分析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体 / 晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。
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